本实用新型涉及测试探针设备技术领域，具体为一种检测性能好的测试探针。
背景技术：
测试探针主要用于检测装置与被检测目标装置间的临时电路连接，由于不同型号的被检测目标的接电头的间距大小不同，而贯用的测试探针的间距无法改变，从而造成检测装置的检测探针与目标匹配度低的问题，同时目标与检测探针长期裸露在空气中，其表面易产生氧化膜，影响导电性能，从而影响了检测的精准度，所以急需要一种能够解决上述问题的装置。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种检测性能好的测试探针，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种检测性能好的测试探针，包括支架、调节主体和探头；所述调节主体滑动安装在支架的内壁，所述探头均匀固定连接在调节主体的下端；所述支架包括滑框和螺丝，所述螺丝螺纹安装在滑框的侧部；所述调节主体包括伸缩架、第一导体、第三导体和第一弹簧，所述第三导体均匀滑动安装在滑框的上部内壁，所述第三导体的下端均转动连接在伸缩架的上端，所述第一导体固定连接在第三导体的下端，所述第一弹簧的两端固定连接在第三导体的内壁；所述探头包括导体壳、导体柱和第二弹簧，所述导体壳的上部内壁滑动安装在导体柱的下部外壁，所述导体柱的上端固定连接在第一导体的下端，所述导体柱的下端固定连接在第二弹簧的上端，所述第二弹簧的下端固定支撑在导体壳的内壁下端。
优选的，所述支架还包括固定块，所述固定块对称固定连接在滑框的侧端，所述螺丝螺纹插接在固定块的前端，所述螺丝贯穿固定块。
优选的，所述第三导体的侧壁均电性固定连接有导线，所述导线的上部与滑框固定连接。
优选的，所述调节主体还包括第二导体，所述第二导体转动安装在伸缩架的内壁，所述第二导体的上端固定连接在第三导体的下端，所述第二导体的下端固定连接在第一导体的上端中心。
优选的，所述探头还包括挡片，所述挡片的上端固定连接在导体柱的下端，所述挡片的下端固定连接在第二弹簧的上端，所述挡片滑动支撑在导体壳的下部内壁。
优选的，所述第三导体包括滑块和滑槽，所述滑槽对称开设在滑块的侧壁，所述滑槽的内壁滑动支撑在滑框的上部内壁，所述滑块的下端滑动支撑在滑框的下部内壁。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
使用时将装置通过固定块与目标检测装置焊接在一起，通过导线连接目标检测装置电路电源，使用时将探头的下端对准目标接电头，当目标接电头的间距小于探头下端的间距时，借助外加起子将螺丝向后拧入，通过螺丝向内挤压前部的第三导体，有效压力通过第二导体作用于伸缩架，使伸缩架做收缩工作，通过伸缩架收缩工作利用第二导体作用于第一导体，使第一导体做均匀收缩工作，直到第一导体通过导体柱带动探头下端对准目标接电头后停止操作，同理反向操作调大探头之间的间距，然后借助外力下压检测装置，全名得目标接电头作用于导体壳，推动导体壳向上移动，同时利用导体柱的扭曲外形，使得导体壳沿导体柱旋转向上滑动工作，通过导体壳旋转与目标接电头转动摩擦，通过转动摩擦达到磨损氧化膜的目的，防止了目标接电头及导体壳下端外层氧化膜影响导电性能，从而影响了检测性，达到提高检测性能的目的。
附图说明
图1为本实用新型的主体结构示意图；
图2为本实用新型的支架结构示意图；
图3为本实用新型的调节主体结构示意图；
图4为本实用新型的探头结构示意图；
图5为本实用新型的第三导体结构示意图。
图中：1、导线；2、支架；3、调节主体；4、探头；5、固定块；6、滑框；7、螺丝；8、伸缩架；9、第一导体；10、第二导体；11、第三导体；12、第一弹簧；13、导体壳；14、导体柱；15、挡片；16、第二弹簧；17、滑块；18、滑槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
请参阅图1-5，本实用新型提供的一种实施例：一种检测性能好的测试探针，包括支架2、调节主体3和探头4；调节主体3滑动安装在支架2的内壁，探头4均匀固定连接在调节主体3的下端；支架2包括滑框6和螺丝7，螺丝7螺纹安装在滑框6的侧部；调节主体3包括伸缩架8、第一导体9、第三导体11和第一弹簧12，第三导体11均匀滑动安装在滑框6的上部内壁，第三导体11的下端均转动连接在伸缩架8的上端，第一导体9固定连接在第三导体11的下端，第一弹簧12的两端固定连接在第三导体11的内壁；探头4包括导体壳13、导体柱14和第二弹簧16，导体壳13的上部内壁滑动安装在导体柱14的下部外壁，导体柱14的上端固定连接在第一导体9的下端，导体柱14的下端固定连接在第二弹簧16的上端，第二弹簧16的下端固定支撑在导体壳13的内壁下端，使用时将装置通过固定块5与目标检测装置焊接在一起，通过导线1连接目标检测装置电路电源，使用时将探头4的下端对准目标接电头，当目标接电头的间距小于探头4下端的间距时，借助外加起子将螺丝7向后拧入，通过螺丝7向内挤压前部的第三导体11，有效压力通过第二导体10作用于伸缩架8，使伸缩架8做收缩工作，通过伸缩架8收缩工作利用第二导体10作用于第一导体9，使第一导体9做均匀收缩工作，直到第一导体9通过导体柱14带动探头4下端对准目标接电头后停止操作，同理反向操作调大探头4之间的间距，然后借助外力下压检测装置，全名得目标接电头作用于导体壳13，推动导体壳13向上移动，同时利用导体柱14的扭曲外形，使得导体壳13沿导体柱14旋转向上滑动工作，通过导体壳13旋转与目标接电头转动摩擦，通过转动摩擦达到磨损氧化膜的目的，防止了目标接电头及导体壳13下端外层氧化膜影响导电性能，从而影响了检测性，达到提高检测性能的目的。
支架2还包括固定块5，固定块5对称固定连接在滑框6的侧端，螺丝7螺纹插接在固定块5的前端，螺丝7贯穿固定块5，第三导体11的侧壁均电性固定连接有导线1，导线1的上部与滑框6固定连接，调节主体3还包括第二导体10，第二导体10转动安装在伸缩架8的内壁，第二导体10的上端固定连接在第三导体11的下端，第二导体10的下端固定连接在第一导体9的上端中心，探头4还包括挡片15，挡片15的上端固定连接在导体柱14的下端，挡片15的下端固定连接在第二弹簧16的上端，挡片15滑动支撑在导体壳13的下部内壁，第三导体11包括滑块17和滑槽18，滑槽18对称开设在滑块17的侧壁，滑槽18的内壁滑动支撑在滑框6的上部内壁，滑块17的下端滑动支撑在滑框6的下部内壁。
工作原理：使用时将装置通过固定块5与目标检测装置焊接在一起，通过导线1连接目标检测装置电路电源，使用时将探头4的下端对准目标接电头，当目标接电头的间距小于探头4下端的间距时，借助外加起子将螺丝7向后拧入，通过螺丝7向内挤压前部的第三导体11，有效压力通过第二导体10作用于伸缩架8，使伸缩架8做收缩工作，通过伸缩架8收缩工作利用第二导体10作用于第一导体9，使第一导体9做均匀收缩工作，直到第一导体9通过导体柱14带动探头4下端对准目标接电头后停止操作，同理反向操作调大探头4之间的间距，然后借助外力下压检测装置，全名得目标接电头作用于导体壳13，推动导体壳13向上移动，同时利用导体柱14的扭曲外形，使得导体壳13沿导体柱14旋转向上滑动工作，通过导体壳13旋转与目标接电头转动摩擦，通过转动摩擦达到磨损氧化膜的目的，防止了目标接电头及导体壳13下端外层氧化膜影响导电性能，从而影响了检测性，达到提高检测性能的目的。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
1.一种检测性能好的测试探针，包括支架（2）、调节主体（3）和探头（4），其特征在于：所述调节主体（3）滑动安装在支架（2）的内壁，所述探头（4）均匀固定连接在调节主体（3）的下端；所述支架（2）包括滑框（6）和螺丝（7），所述螺丝（7）螺纹安装在滑框（6）的侧部；所述调节主体（3）包括伸缩架（8）、第一导体（9）、第三导体（11）和第一弹簧（12），所述第三导体（11）均匀滑动安装在滑框（6）的上部内壁，所述第三导体（11）的下端均转动连接在伸缩架（8）的上端，所述第一导体（9）固定连接在第三导体（11）的下端，所述第一弹簧（12）的两端固定连接在第三导体（11）的内壁；所述探头（4）包括导体壳（13）、导体柱（14）和第二弹簧（16），所述导体壳（13）的上部内壁滑动安装在导体柱（14）的下部外壁，所述导体柱（14）的上端固定连接在第一导体（9）的下端，所述导体柱（14）的下端固定连接在第二弹簧（16）的上端，所述第二弹簧（16）的下端固定支撑在导体壳（13）的内壁下端。
2.根据权利要求1所述的一种检测性能好的测试探针，其特征在于：所述支架（2）还包括固定块（5），所述固定块（5）对称固定连接在滑框（6）的侧端，所述螺丝（7）螺纹插接在固定块（5）的前端，所述螺丝（7）贯穿固定块（5）。
3.根据权利要求1所述的一种检测性能好的测试探针，其特征在于：所述第三导体（11）的侧壁均电性固定连接有导线（1），所述导线（1）的上部与滑框（6）固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种检测性能好的测试探针，其特征在于：所述调节主体（3）还包括第二导体（10），所述第二导体（10）转动安装在伸缩架（8）的内壁，所述第二导体（10）的上端固定连接在第三导体（11）的下端，所述第二导体（10）的下端固定连接在第一导体（9）的上端中心。
5.根据权利要求1所述的一种检测性能好的测试探针，其特征在于：所述探头（4）还包括挡片（15），所述挡片（15）的上端固定连接在导体柱（14）的下端，所述挡片（15）的下端固定连接在第二弹簧（16）的上端，所述挡片（15）滑动支撑在导体壳（13）的下部内壁。
6.根据权利要求1所述的一种检测性能好的测试探针，其特征在于：所述第三导体（11）包括滑块（17）和滑槽（18），所述滑槽（18）对称开设在滑块（17）的侧壁，所述滑槽（18）的内壁滑动支撑在滑框（6）的上部内壁，所述滑块（17）的下端滑动支撑在滑框（6）的下部内壁。
技术总结