本实用新型属于插座测试技术领域，具体涉及一种插座快速老化测试装置。
背景技术：
为保证插座类产品性能符合标准，在出厂前需要对其进行通断性能测试，以保证出厂产品性能可靠；同时，根据国家相关法规和标准及其他国际通用标准，对插座类产品的耐高压性能也有一定的要求，因此各个插座类产品生产商在其产品出厂前都需进行相关的测试。
授权公告号cn208043954u，授权公告日2018年11月2日的实用新型专利公开了一种充电器老化测试仪，用于充电器老化过程和测试过程的一体进行，避免频繁的插拔动作带来的测试困扰。但是，该测试仪时需要将充电器的插头对准双头插座插入进行测试，测试结束后将充电器从插座中拔出。如果双头插座是立式设计的，如果插孔设计的比较松，充电器容易在重力作用下落下；如果插孔设计的比较紧，充电器在插拔的时候比较费力，使得测试过程的操作不便。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种插座快速老化测试装置，其特征在于，包括：
插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；
所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；
所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；
驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。
上述技术方案中，直接将待测试的插座插头朝下放入至插头容纳腔，由驱动装置驱动插头容纳腔中的电极靠近或者远离对应的插头实现测试正、负电极与插座的电接触，测试过程更加方便。
作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极，使得其电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离；所述测试正电极固定在所述插头容纳腔中。
作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试正电极，使得其电接触部能与所述插座的正极插头分离；所述测试负电极固定在所述插头容纳腔中。
作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极和所述测试正电极，使得所述测试负电极的电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离、所述测试正电极的电接触部能与所述插座的正极插头电接触或分离。
作为优选，所述驱动装置为驱动气缸。
作为优选，所述插座插口处设有插座限位结构。防止插座在测试过程中被移位，保证测试环境和测试条件的稳定。
作为优选，所述插座限位结构包括在所述插座插口处下凹的限位槽。插座限位结构设计简单，便于操作。
作为优选，所述插头容纳腔的横截面为三角形。便于将待测试的插座按照统一的方向放入到插头容纳腔中。
作为优选，所述插头容纳腔有多个。便于实现批量化的测试操作，提高测试效率。
本实用新型具有如下技术效果：
1.不需要将待测试的插座插拔到测试装置上，测试过程的更加方便。
2.插座插口处设有插座限位结构。防止插座在测试过程中被移位，保证测试环境和测试条件的稳定。
3.插头容纳腔的横截面为三角形。便于将待测试的插座按照统一的方向放入到插头容纳腔中。
4.插头容纳腔有多个。便于实现批量化的测试操作，提高测试效率。
附图说明
图1本发明的插座快速老化测试装置的结构示意图。
图2本发明的实施例一的插头容纳腔内部结构示意图。
图3本发明的实施例二的插头容纳腔内部结构示意图。
具体实施方式
这里使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，而不意图限制本实用新型。除非另外定义，否则本文使用的所有术语具有与本实用新型所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。将进一步理解的是，常用术语应该被解释为具有与其在相关领域和本公开内容中的含义一致的含义。本公开将被认为是本实用新型的示例，并且不旨在将本实用新型限制到特定实施例。
实施例一
一种插座快速老化测试装置，包括壳体1以及设置在壳体1内的多个插头容纳腔11。插头容纳腔11用于为待测试的插座2供电以进行相应的插座测试。插头容纳腔11可以为直接开设在壳体1顶部的插孔或者插槽，用于容纳待测试的插座2的所有插头并且具有朝上的插座插口111。在插头容纳腔11内设有用于与待测试的插座电连接以进行测试的测试电极。测试电极包括测试正电极112、测试负电极113。测试正电极112与测试电源的正极电连接，测试负电极113与测试电源的负极电连接。测试正电极112包括用于与插入插头容纳部11的插座的正极插头电接触的电接触部，测试负电极113包括用于与插入插头容纳部11的插座的负极插头电接触的电接触部。测试正电极和测试负电极中的一个可移动地设置在插头容纳腔11中，其余测试电极固定在插座容纳腔11中。此处以测试正电极可移动设置为例进行描述，测试负电极可移动设置的方案与其类似，本文不在赘述。将测试正电极112可移动地设置在插头容纳腔11中使得其能够在插头容纳腔11的侧面方向伸缩。例如，可以采用气缸等驱动装置12用于驱动测试正电极在插头容纳腔靠近插座的正极插头的一侧伸缩，使得当测试正电极112伸出时其电接触部能够与插入插头容纳部11的插座的正极插头电接触，而当测试正电极112缩回时其电接触部与插入插头容纳部11的插座的正极插头分离。测试负电极113固定的设置在插头容纳腔11的底部对应于插入插头容纳部11的插座的负极插头位置处，测试负电极113固定的设置在插头容纳腔11的底部对应于插入插头容纳部11的插座的接地插头位置处，使得当插座插入到插头容纳部11以后，插座的负极插头恰好与测试负电极的电接触部接触。这样，可以通过驱动装置控制测试正电极112的伸缩来控制测试电源与待测试的插座的导通和断开，从而执行插座的通断测试。
作为优选，在插头容纳腔11的插座插口处设有插座限位结构115。例如，本实施例中的插座限位结构115为在插座插口处下凹的限位槽，限位槽的轮廓与待测试的插座的插头端的外部轮廓匹配一致，使得插座能够被限位于限位槽中，方便在测试之前放置插座时的定位，并且确定插座插头在插头容纳腔11中的位置。
作为优选，插头容纳腔11的横截面为三角形。便于操作人员在放置待测试插座时辨识方向，统一放置。
为了提高测试的效率，可以再设计时将壳体上的插头容纳腔分为两类，两类插头容纳腔采用不同的驱动装置进行驱动，第一类插头容纳腔连通测试电源时，另一类插头容纳腔断开测试电源，从而使得它们可以交替工作。
实施例二
一种插座快速老化测试装置，包括壳体1以及设置在壳体1内的多个插头容纳腔11。插头容纳腔11用于为待测试的插座2供电以进行相应的插座测试。插头容纳腔11可以为直接开设在壳体1顶部的插孔或者插槽，用于容纳待测试的插座2的所有插头并且具有朝上的插座插口111。在插头容纳腔11内设有用于与待测试的插座电连接以进行测试的测试电极。测试电极包括测试正电极112、测试负电极113。测试正电极112与测试电源的正极电连接，测试负电极113与测试电源的负极电连接。测试正电极112包括用于与插入插头容纳部11的插座的正极插头电接触的电接触部，测试负电极113包括用于与插入插头容纳部11的插座的负极插头电接触的电接触部。测试正电极和测试负电极中均可移动地设置在插头容纳腔11中，测试地电极固定在插座容纳腔11中。例如，可以采用气缸等驱动装置12用于驱动测试正电极112在插头容纳腔11靠近插座的正极插头的一侧伸缩，同时驱动测试负电极113在插头容纳腔11靠近插座的负极插头的一侧伸缩，使得测试正电极112和测试负电极113能够同时夹紧插座的插头，从而测试正电极112的电接触部能够与插入插头容纳部11的插座的正极插头电接触，测试负电极113的电接触部能够与插入插头容纳部11的插座的负极插头电接触；测试正电极112和测试负电极113能够同时松开插座的插头，从而测试正电极112的电接触部能够与插入插头容纳部11的插座的正极插头分离，测试负电极113的电接触部能够与插入插头容纳部11的插座的负极插头分离。当插座插入到插头容纳部11以后，插座的负极插头恰好与测试负电极的电接触部接触。这样，可以通过驱动装置控制测试正电极112和测试负电极113的伸缩来控制测试电源与待测试的插座的导通和断开，从而执行插座的通断测试。
作为优选，在插头容纳腔11的插座插口处设有插座限位结构115。例如，本实施例中的插座限位结构115为在插座插口处下凹的限位槽，限位槽的轮廓与待测试的插座的插头端的外部轮廓匹配一致，使得插座能够被限位于限位槽中，方便在测试之前放置插座时的定位，并且确定插座插头在插头容纳腔11中的位置。
作为优选，插头容纳腔11的横截面为三角形。便于操作人员在放置待测试插座时辨识方向，统一放置。
为了提高测试的效率，可以再设计时将壳体上的插头容纳腔分为两类，两类插头容纳腔采用不同的驱动装置进行驱动，第一类插头容纳腔连通测试电源时，另一类插头容纳腔断开测试电源，从而使得它们可以交替工作。
虽然描述了本实用新型的实施方式，但是本领域普通技术人员可以在所附权利要求的范围内做出各种变形或修改。
1.一种插座快速老化测试装置，其特征在于，包括：
插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；
所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；
所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；
驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。
2.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极，使得其电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离；
所述测试正电极固定在所述插头容纳腔中。
3.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试正电极，使得其电接触部能与所述插座的正极插头分离；
所述测试负电极固定在所述插头容纳腔中。
4.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极和所述测试正电极，使得所述测试负电极的电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离、所述测试正电极的电接触部能与所述插座的正极插头电接触或分离。
5.根据权利要求2-4中任一项所述的插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置为驱动气缸。
6.根据权利要求5所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于，还包括：
所述插座插口处设有插座限位结构。
7.根据权利要求6所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插座限位结构包括在所述插座插口处下凹的限位槽。
8.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插头容纳腔的横截面为三角形。
9.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插头容纳腔有多个。
技术总结