本申请涉及磁盘阵列芯片，尤其涉及一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置。
背景技术：
1、磁盘阵列芯片主要应用于服务器的存储，能够将多个磁盘组合成一个磁盘组，提高数据的传输速率和安全性，随着互联网和云技术的兴起，对磁盘阵列芯片的需求也越来越大。在出厂时需对磁盘阵列芯片进行检测，保证芯片的合格率。
2、目前的磁盘阵列芯片的检测主要依靠人工分析测试数据，并根据经验判断测试数据是否正常，进而确定磁盘阵列芯片是否测试通过。
3、然而，依靠人工分析测试数据去决定磁盘阵列芯片的测试结果，耗时长且效率低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请提供了一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置，用以提高磁盘阵列芯片的测试效率。
2、第一方面，本申请提供了一种磁盘阵列芯片的测试方法，应用于待测芯片基台和上位机，所述待测芯片基台与所述上位机相连接，所述待测芯片基台用于放置待测磁盘阵列芯片；所述方法包括：
3、所述上位机将测试程序下载至所述待测磁盘阵列芯片中；
4、所述待测磁盘阵列芯片根据所述测试程序对磁盘进行测试，得到所述待测磁盘阵列芯片的测试数据；
5、所述待测芯片基台将所述测试数据发送给所述上位机；
6、所述上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，当所述数据标准值与所述测试数据的差值小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过。
7、可选地，所述测试数据包括待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间数据，所述待测磁盘阵列芯片根据所述测试程序对磁盘进行测试，包括：
8、所述待测磁盘阵列芯片根据测试程序对所述磁盘进行初始化，得到所述待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间数据。
9、可选地，所述预先存储的标准值包括待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间标准数据；
10、所述上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，当所述数据标准值与所述测试数据的差值小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过，包括：
11、所述上位机将磁盘初始化时间标准数据与所述待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间数据进行比对计算，当所述磁盘初始化时间标准数据与所述待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间数据小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过。
12、可选地，所述测试数据还包括磁盘识别信息，所述磁盘识别信息包括所述磁盘的型号和所述磁盘的速率标准；所述预先存储的标准值包括磁盘标准信息；
13、所述上位机将预先存储的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，包括：
14、所述上位机将磁盘识别信息与所述数据标准值进行信息比对计算，得到识别信息比对计算结果；
15、若所述识别信息比对计算结果指示所述磁盘识别信息与所述数据标准值一致，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过。
16、可选地，所述测试数据包括待测磁盘阵列芯片的磁盘读写速率，所述待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行测试，包括：
17、所述待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行数据读写，并计算磁盘读写速率，得到所述待测磁盘阵列芯片的磁盘读写速率。
18、可选地，所述预先存储的标准值包括待测磁盘阵列芯片的磁盘读写速率标准值；
19、所述上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，当所述数据标准值与所述测试数据的差值小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过，包括：
20、所述上位机将所述磁盘读写速率标准值与所述磁盘读写速率进行比对计算，当所述磁盘读写速率标准值与所述磁盘读写速率的差值小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过。
21、可选地，在确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过之后，所述方法还包括：
22、将所述待测磁盘阵列芯片测试的测试数据保存至数据库中。
23、第二方面，本申请提供了一种磁盘阵列芯片的测试装置，所述测试装置包括待测芯片基台和上位机，所述待测芯片基台与所述上位机相连接；所述待测芯片基台用于放置待测磁盘阵列芯片，所述上位机包括下载模块和计算模块；
24、所述下载模块，用于将测试程序下载至所述待测磁盘阵列芯片中，以使得所述待测磁盘阵列芯片根据所述测试程序对磁盘进行测试，得到所述待测磁盘阵列芯片的测试数据；
25、所述待测芯片基台，用于将所述测试数据发送给所述上位机；
26、所述计算模块，用于将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，当所述数据标准值与所述测试数据的差值小于预设阈值，确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过。
27、可选地，所述上位机还包括显示模块，所述显示模块，用于显示所述待测磁盘阵列芯片的测试结果。
28、可选地，所述上位机还包括数据库模块，所述数据库模块，用于将所述待测磁盘阵列芯片测试的测试数据保存至数据库中。
29、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
30、存储器，用于存储一个或多个程序；
31、处理器，当所述一个或多个程序被所述处理器执行时，实现前述第一方面任一项所述的磁盘阵列芯片的测试方法。
32、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序，当所述程序被处理器执行时，实现前述第一方面任一项所述的磁盘阵列芯片的测试方法。
33、上述技术方案具有如下有益效果：
34、本申请实施例提供了一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置，该测试方法应用于待测芯片基台和上位机，待测芯片基台与上位机相连接，待测芯片基台用于放置待测磁盘阵列芯片，在执行所述方法时，上位机首先将测试程序下载至待测磁盘阵列芯片中；接着待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行测试，得到待测磁盘阵列芯片的测试数据；然后所述待测芯片基台将所述测试数据发送给上位机；最后上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，当所述数据标准值与所述测试数据的差值小于预设阈值，确定待测磁盘阵列芯片测试通过。通过上述方式，通过上位机与待测芯片基台之间的交互，实现对待测磁盘阵列芯片的测试，并通过上位机对测试数据进行计算分析待测磁盘阵列芯片的测试结果，不需要人工去分析和判断，缩短了对待测磁盘阵列芯片测试时间，进而提高磁盘阵列芯片的测试效率。
1.一种磁盘阵列芯片的测试方法，其特征在于，应用于待测芯片基台和上位机，所述待测芯片基台与所述上位机相连接，所述待测芯片基台用于放置待测磁盘阵列芯片；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试数据包括待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间数据，所述待测磁盘阵列芯片根据所述测试程序对磁盘进行测试，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预先存储的标准值包括待测磁盘阵列芯片的磁盘初始化时间标准数据；
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试数据还包括磁盘识别信息，所述磁盘识别信息包括所述磁盘的型号和所述磁盘的速率标准；所述预先存储的标准值包括磁盘标准信息；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试数据包括待测磁盘阵列芯片的磁盘读写速率，所述待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行测试，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预先存储的标准值包括待测磁盘阵列芯片的磁盘读写速率标准值；
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述待测磁盘阵列芯片测试通过之后，所述方法还包括：
8.一种磁盘阵列芯片的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括待测芯片基台和上位机，所述待测芯片基台与所述上位机相连接；所述待测芯片基台用于放置待测磁盘阵列芯片，所述上位机包括下载模块和计算模块；
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述上位机还包括显示模块，所述显示模块，用于显示所述待测磁盘阵列芯片的测试结果。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述上位机还包括数据库模块，所述数据库模块，用于将所述待测磁盘阵列芯片测试的测试数据保存至数据库中。
