本公开属于芯片测试领域，具体涉及一种测试机固定装置。
背景技术：
1、在芯片测试行业中，测试机需要通过测试机固定装置安装在支撑架上，才能与handler、探针台(prober)等机台配合，以实现一整套的自动化测试流程。
2、如图1所示，现有的测试机固定装置通过第一连接臂2和第二连接臂3以及测试机固定端4将测试机固定在测试机支撑架5上，第二连接臂3与测试机固定端4通过转轴直接连接，第二连接臂3与测试机固定端4之间形成90°的夹角(如图2所示)，导致测试机随测试机固定端左右摆动时会受该夹角的限制，从而使得测试机左右摆动不够灵活，而由于测试机左右摆动不够灵活，就需要不断调整测试机与支撑架之间的配合角度，从而造成人力和物力的增加。此外，由于第二连接臂的长度较长，导致在需要摆动测试机时的空间需求较大。此外，如图1和图2所示的测试机固定装置无上下倾斜角度调节装置，导致将测试机与handler或者prober匹配时，只能通过频繁的调节支撑架底端的支撑脚(如图3所示)来调整测试机与handler或者prober之间的上下水平差距，从而增加作业人员的工作量。
技术实现思路
1、针对现有技术中的不足，本公开的目的在于提供一种测试机固定装置，本装置在原有装置的基础上通过增加第三连接臂，能够扩大测试机固定端及测试机的摆动角度。
2、为实现上述目的，本公开提供以下技术方案：
3、一种测试机固定装置，包括：
4、支撑板，
5、所述支撑板依次通过第一连接臂、第二连接臂和第三连接臂连接测试机固定端，
6、所述第三连接臂通过设置于所述测试机固定端上的连接件与所述测试机固定端连接。
7、优选的，所述第三连接臂包括连接臂主体，连接臂主体与所述测试机固定端上的连接件连接的部分为倾斜状凸体，凸体上设置有转轴，连接臂主体通过转轴与测试机固定端上的连接件连接。
8、优选的，所述连接臂主体的一侧设置有上连接块和下连接块，上连接块上设置有上连接孔，下连接块上设置有下连接孔，上连接孔和下连接孔之间设置有连接轴，第三连接臂通过连接轴与第二连接臂连接。
9、优选的，所述连接轴上设置有连接轴固定结构。
10、优选的，所述连接轴固定结构包括u形固定块，u形固定块位于所述上连接块的上端面且与所述连接轴套接，u形固定块两侧设置有对应的通孔，u形固定块通过通孔连接有固定手柄。
11、优选的，所述u形固定块表面设置有螺丝孔，u形固定块通过螺丝孔固定在所述上连接块的上端面。
12、优选的，所述连接臂主体上与所述下连接块同一侧的下方设置有调节孔，调节孔内设置有调节结构。
13、优选的，所述调节结构包括可调位紧定手柄，可调位紧定手柄连接有可调位紧定手柄螺丝，可调位紧定手柄螺丝贯穿于所述调节孔内。
14、与现有技术相比，本公开带来的有益效果为：通过增加第三连接臂，能够扩大测试机固定端及测试机的摆动角度，省去不断调整测试机与支撑架之间的角度带来的麻烦。
1.一种测试机固定装置，其特征在于，所述测试机固定装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第三连接臂包括连接臂主体，连接臂主体与所述测试机固定端上的连接件连接的部分为倾斜状凸体，凸体上设置有转轴，连接臂主体通过转轴与测试机固定端上的连接件连接。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述连接臂主体的一侧设置有上连接块和下连接块，上连接块上设置有上连接孔，下连接块上设置有下连接孔，上连接孔和下连接孔之间设置有连接轴，第三连接臂通过连接轴与第二连接臂连接。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述连接轴上设置有连接轴固定结构。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述连接轴固定结构包括u形固定块，u形固定块位于所述上连接块的上端面且与所述连接轴套接，u形固定块两侧设置有对应的通孔，u形固定块通过通孔连接有固定手柄。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述u形固定块表面设置有螺丝孔，u形固定块通过螺丝孔固定在所述上连接块的上端面。
7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述连接臂主体上与所述下连接块同一侧的下方设置有调节孔，调节孔内设置有调节结构。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述调节结构包括可调位紧定手柄，可调位紧定手柄连接有可调位紧定手柄螺丝，可调位紧定手柄螺丝贯穿于所述调节孔内。
