本发明涉及芯片检测治具，具体为一种芯片检测治具。
背景技术：
1、芯片检测治具，也称为芯片测试治具或芯片测试夹具，是一种用于芯片测试的实验室设备，它能够实现芯片的功能测试、参数测试和性能测试。芯片检测治具主要将芯片插入治具中，通过外部电路模拟芯片的工作状态，从而对芯片的功能进行测试，以检查芯片是否正常以及排查芯片是否存在缺陷，是电子工程师验证芯片性能和可靠性的重要工具。
2、现有的芯片检测治具主要包括芯片放置座和检测装置，芯片放置座内设置有探针座，探针座与检测装置相连接，将芯片放置在探针座上方，通过挤压将芯片与探针座连接，通过检测装置进行检测。但是不同的芯片表面设计不同以致于芯片的检测口位置不同，部分芯片检测治具探针座单一，仅能够检测单一型号芯片，对于不同的芯片的检测需要不同的探针座来连接，不仅增加了芯片检测的资金投入，且影响芯片检测效率。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片检测治具，解决了部分芯片检测治具探针座单一，仅能够检测单一型号芯片，对于不同的芯片的检测需要不同的探针座来连接的问题。
2、为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种芯片检测治具，包括底座，所述底座上设置有放置单元，所述放置单元上设置有压紧单元，所述压紧单元包括翻盖和旋压组件，所述翻盖与放置单元相连接，所述旋压组件设置在翻盖上；
3、所述放置单元包括放置座、探针座和限位机构，所述放置座固定连接在底座上，所述探针座活动设置在放置座内，所述限位机构设置在放置座的两侧内部；
4、所述限位机构包括按键块、活动杆组件和回弹组件，所述按键块活动设置在活动杆组件内，所述活动杆组件活动设置在放置座的两侧内部，所述回弹组件设置在活动杆组件上。
5、优选的，所述放置座内开设有凹槽，所述探针座活动连接在凹槽内，所述放置座上固定连接有多个铰座，所述放置座的正面设置有固定杆，所述放置座的两侧内部开设滑动槽，滑动槽的上方开设有卡槽，所述活动杆组件设置在滑动槽内。
6、优选的，所述探针座的顶部固定连接有多个探针，所述探针座的两侧开设有限位孔。
7、优选的，所述活动杆组件包括推动杆、连接件和限位块，三者均固定连接，且均滑动连接在滑动槽内，所述限位块一端活动连接在限位孔内，且另一端与回弹组件相连接，所述按键块活动插接在推动杆内，所述回弹组件设置在连接件一侧。
8、优选的，所述回弹组件包括固定块、弹性杆、卡块和第一弹簧，所述固定块固定连接在限位块的另一端，所述弹性杆的两端分别与固定块和卡块固定连接，所述卡块活动连接在卡槽内，且卡块与按键块相抵接，所述第一弹簧设置在弹性杆的下方，且第一弹簧的两端分别与固定块和按键块固定连接。
9、优选的，所述限位机构还包括第二弹簧，所述第二弹簧一端固定连接在滑动槽一端，且另一端固定连接在限位块上。
10、优选的，所述旋压组件包括旋转件、螺纹杆、联动块和压紧块，所述旋转件转动连接在放置座的上方，所述螺纹杆的一端与旋转件固定连接，且另一端穿过翻盖与联动块转动连接，所述螺纹杆与翻盖螺纹连接，所述联动块活动连接在翻盖的下方，所述压紧块固定连接在联动块上，所述联动块和压紧块活动连接在凹槽内。
11、优选的，所述压紧单元还包括板扣和铰接组件，所述板扣与固定杆相抵接，所述铰接组件与铰座相连接。
12、优选的，所述铰接组件包括转杆和多个弹簧件，所述转杆插接在铰座内，且转杆两端与翻盖固定连接，多个所述弹簧件的固定套接在转杆上，且弹簧件一端固定连接在翻盖上。
13、本发明公开了一种芯片检测治具，其具备的有益效果如下：通过设置限位机构，使得探针座活动设置在放置座内，能够根据不同的芯片更换相应的探针座，实现单一芯片检测治具能够对多种型号的芯片进行检测，不仅减少了检测资金投入，且提高了芯片检测效率；通过按压推动杆，带动限位块向前移动至限位孔内，卡块被带动卡接入卡槽内，将限位块固定在限位孔内，进而将探针座固定在放置座内，使得探针座安装快速便捷；通过设置旋压组件，转动旋转件，带动联动块和压紧块向下移动，对芯片进行压紧连接，使得检测更加稳定。
1.一种芯片检测治具，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上设置有放置单元(2)，所述放置单元(2)上设置有压紧单元(3)，所述压紧单元(3)包括翻盖(31)和旋压组件(33)，所述翻盖(31)与放置单元(2)相连接，所述旋压组件(33)设置在翻盖(31)上；
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述放置座(21)内开设有凹槽(211)，所述探针座(22)活动连接在凹槽(211)内，所述放置座(21)上固定连接有多个铰座(212)，所述放置座(21)的正面设置有固定杆(213)，所述放置座(21)的两侧内部开设滑动槽(214)，滑动槽(214)的上方开设有卡槽(2141)，所述活动杆组件(232)设置在滑动槽(214)内。
3.根据权利要求2所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述探针座(22)的顶部固定连接有多个探针(221)，所述探针座(22)的两侧开设有限位孔(222)。
4.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述活动杆组件(232)包括推动杆(2321)、连接件(2322)和限位块(2323)，三者均固定连接，且均滑动连接在滑动槽(214)内，所述限位块(2323)一端活动连接在限位孔(222)内，且另一端与回弹组件(233)相连接，所述按键块(231)活动插接在推动杆(2321)内，所述回弹组件(233)设置在连接件(2322)一侧。
5.根据权利要求4所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述回弹组件(233)包括固定块(2331)、弹性杆(2332)、卡块(2333)和第一弹簧(2334)，所述固定块(2331)固定连接在限位块(2323)的另一端，所述弹性杆(2332)的两端分别与固定块(2331)和卡块(2333)固定连接，所述卡块(2333)活动连接在卡槽(2141)内，且卡块(2333)与按键块(231)相抵接，所述第一弹簧(2334)设置在弹性杆(2332)的下方，且第一弹簧(2334)的两端分别与固定块(2331)和按键块(231)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述限位机构(23)还包括第二弹簧(234)，所述第二弹簧(234)一端固定连接在滑动槽(214)一端，且另一端固定连接在限位块(2323)上。
7.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述旋压组件(33)包括旋转件(331)、螺纹杆(332)、联动块(333)和压紧块(334)，所述旋转件(331)转动连接在放置座(21)的上方，所述螺纹杆(332)的一端与旋转件(331)固定连接，且另一端穿过翻盖(31)与联动块(333)转动连接，所述螺纹杆(332)与翻盖(31)螺纹连接，所述联动块(333)活动连接在翻盖(31)的下方，所述压紧块(334)固定连接在联动块(333)上，所述联动块(333)和压紧块(334)活动连接在凹槽(211)内。
8.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述压紧单元(3)还包括板扣(32)和铰接组件(34)，所述板扣(32)与固定杆(213)相抵接，所述铰接组件(34)与铰座(212)相连接。
9.根据权利要求8所述的一种芯片检测治具，其特征在于，所述铰接组件(34)包括转杆和多个弹簧件，所述转杆插接在铰座(212)内，且转杆两端与翻盖(31)固定连接，多个所述弹簧件的固定套接在转杆上，且弹簧件一端固定连接在翻盖(31)上。
