岩石薄片制样方法与流程

    技术2026-07-10  8


    本发明涉及页岩油气储层研究,具体地,涉及一种岩石薄片制样方法。


    背景技术:

    1、随着常规油气资源的不断消耗和经济发展对能源需求的不断攀升,非常规油气在能源结构中的地位日趋重要,其中一种便是页岩油,页岩油是指赋存于富有机质纳米级孔喉页岩底层中的石油。直观可视化的表征流体的赋存状态是页岩油储层含油性和可动性评价的关键手段。将页岩制成岩石薄片通过显微镜能够对其进行含油性和可动性分析。

    2、现有技术中,在岩石薄片制备的过程中会经历粗切、精细切割、打磨抛光等过程,在这些过程中,设备产生的热量会造成岩石中的烃类组份挥发,进而导致实际观察分析过程中得到的流体赋存状态或赋存方式出现偏差。


    技术实现思路

    1、针对现有技术中在岩石薄片制备的过程中,设备产生的热量会造成岩石中的烃类组份挥发,进而导致实际观察分析过程中得到的流体赋存状态或赋存方式出现偏差的技术问题,本发明提供了一种岩石薄片制样方法,采用该方法能够保存岩石中的烃类组份,为后续流体赋存状态等观察研究提供更加接近地质情况的岩石薄片。

    2、为实现上述目的,本发明第一方面提供一种岩石薄片制样方法,该方法包括以下步骤:获取冷冻岩石样品;在所述冷冻岩石样品外包覆一层密封胶,得到密封的岩石样品;对密封的冷冻岩石样品进行打磨以形成平整底面;将密封岩石样品的底面粘附在观察装置的载玻片上;对密封岩石样品的与底面相对的顶面进行抛磨,去除所述顶面的密封胶以暴露冷冻岩石样品;利用冷冻氩离子抛光法对密封岩石样品的顶面进行减薄,得到岩石薄片样品。

    3、进一步地,获取冷冻岩石样品,包括:利用液氮对岩石样块进行冷冻,得到冷冻岩石样块;对所述冷冻岩石样块进行切割,得到所述冷冻岩石样品。

    4、进一步地,所述方法还包括:在对所述冷冻岩石样块进行切割过程中持续在冷冻岩石样品表面喷洒液氮。

    5、进一步地,所述岩石样块的冷冻时间介于1-2小时。

    6、进一步地,所述岩石样块的冷冻温度介于-196℃~-209℃。

    7、进一步地,所述密封胶为紫外光固化胶。

    8、进一步地,所述紫外光固化胶为荧光紫外光固化胶。

    9、进一步地,所述载玻片为毛玻璃片。

    10、进一步地,所述方法还包括:在对密封岩石样品的与底面相对的顶面进行抛磨时,持续在所述顶面喷洒液氮。

    11、进一步地,通过以下方式确定所述顶面的密封胶已去除:利用激光共聚焦检测法检测所述顶面是否具有荧光;在检测到所述顶面不具有荧光的情况下,确定所述顶面的密封胶已去除。

    12、通过本发明提供的技术方案,本发明至少具有如下技术效果:

    13、本发明的岩石薄片制样方法,先获取冷冻岩石样品,然后在冷冻岩石样品外包覆一层密封胶,得到密封的岩石样品,对密封的岩石样品进行打磨,形成平整的底面,将底面粘贴在观察装置的载玻片上,然后对与底面相对的顶面进行抛磨,去除顶面的密封胶,暴露出被密封的冻岩石样品,接着利用冷冻氩离子抛光法对密封岩石样品的顶面进行减薄,得到岩石薄片样品。通过本发明提供的岩石薄片制样方法,能够保存岩石中的烃类组份,为后续流体赋存状态等观察研究提供更加接近地质情况的岩石薄片。

    14、本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。



    技术特征:

    1.一种岩石薄片制样方法,其特征在于,所述岩石薄片制样方法包括:

    2.根据权利要求1所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述获取冷冻岩石样品,包括:

    3.根据权利要求1所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述方法还包括:在对所述冷冻岩石样块进行切割过程中持续在冷冻岩石样品表面喷洒液氮。

    4.根据权利要求2所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述岩石样块的冷冻时间介于1-2小时。

    5.根据权利要求2所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述岩石样块的冷冻温度介于-196℃~-209℃。

    6.根据权利要求1所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述密封胶为紫外光固化胶。

    7.根据权利要求6所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述紫外光固化胶为荧光紫外光固化胶。

    8.根据权利要求1所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述载玻片为毛玻璃片。

    9.根据权利要求1所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,所述方法还包括:

    10.根据权利要求7所述的岩石薄片制样方法,其特征在于,通过以下方式确定所述顶面的密封胶已去除:


    技术总结
    本发明提供一种岩石薄片制样方法,属于页岩油气储层研究领域,包括:获取冷冻岩石样品;在所述冷冻岩石样品外包覆一层密封胶,得到密封的岩石样品;对密封的冷冻岩石样品进行打磨以形成平整底面;将密封岩石样品的底面粘附在观察装置的载玻片上;对密封岩石样品的与底面相对的顶面进行抛磨,去除所述顶面的密封胶以暴露冷冻岩石样品;利用冷冻氩离子抛光法对密封岩石样品的顶面进行减薄,得到岩石薄片样品。通过本发明提供的方法,能够保存岩石中的烃类组份,为后续流体赋存状态等观察研究提供更加接近地质情况的岩石薄片。

    技术研发人员:黄振凯,牛骏,葛巧玉,孟祥龙,周冰
    受保护的技术使用者:中国石油化工股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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