一种测量组件的制作方法

    技术2026-07-06  15


    本申请涉及连接器检测,特别是涉及一种测量组件。


    背景技术:

    1、pin针是连接器的一种,用来完成电信号传输的一种金属物质,一般不同设备会搭配的不同型号的pin针,因此,pin针在生产过程中,会有很多种型号。

    2、在现有技术中,pin针的生产过程中,需要针对不同型号的pin针设计不同的测量夹治具,尤其是柱形pin针的测量过程中,由于各款pin针的长度及大小存在差异,需要开发不同的专用辅助测量组件,尤其当一款pin针需要多处测量时,使用不同的测量组件,不仅给生产过程带来了高成本,低生产效率,还给生产过程带来了很多不便。


    技术实现思路

    1、有鉴于此,本申请提供了一种测量组件,以解决现有技术中需要设计多种测量组件测量不同型号的pin针,带来的成本高,生产效率低的问题。

    2、本申请提出一种测量组件,用于测量pin针,所述测量组件包括:

    3、底座;

    4、固定件,设置在所述底座上;

    5、活动件,活动连接在所述底座上,且与所述固定件相对设置,所述底座与所述活动件、所述固定件之间形成容置空间;

    6、测量光线入口,贯穿设置于所述固定件、所述活动件和所述容置空间;

    7、所述固定件和所述活动件之间设置有可调节固定结构,所述可调节固定结构连通于所述容置空间,并用于固定所述pin针。

    8、可选地,所述可调节固定结构包括第一凹槽和第一凸台,所述第一凹槽设置在所述固定件上,所述pin针放置在所述第一凹槽内,所述第一凸台设置在所述活动件上,所述第一凸台位于所述第一凹槽内,以固定所述pin针。

    9、可选地,所述第一凹槽设置为v形槽,所述第一凸台设置为v形凸台,所述v形凸台位于所述v形槽内,以固定所述pin针。

    10、可选地,所述测量组件包括调节块,所述调节块设置在所述容置空间内,所述调节块的顶面不低于所述测量光线入口的底面,不高于所述测量光线入口的顶面。

    11、可选地,所述调节块的厚度设置为顶面与所述测量光线入口的底面平齐。

    12、可选地,所述底座上具有第一平台、第二平台和第三平台,所述第一平台和所述第三平台位于所述第二平台的两侧,所述固定件设置在所述第一平台上,所述调节块设置在所述第二平台上,所述活动件设置在所述第三平台上。

    13、可选地,所述第二平台上设置有凹槽,所述调节块底部设置有凸台,所述凸台设置在所述凹槽内。

    14、可选地,所述固定件上设置有第一连接孔,所述第一平台上设置有第二连接孔,所述第一连接孔和所述第二连接孔同轴设置;

    15、所述测量组件包括连接件,所述连接件设置在所述第一连接孔和所述第二连接孔内。

    16、可选地,所述活动件上设置有第三通孔,所述底座上设置有第四连接孔;

    17、所述测量组件包括调节件,所述调节件设置在所述第三通孔和所述第四连接孔内,用于调节所述固定件与所述活动件的距离。

    18、可选地,所述活动件上设置有第一通孔,所述底座上设置有第一凹槽,所述测量组件包括销钉和弹性件,所述弹性件设置在所述销钉上,所述销钉设置在所述第一通孔和所述第一凹槽内,以使所述活动件弹性连接在所述底座上。

    19、本申请的有益效果是:区别于现有技术,本申请通过设置大小可调的可调节固定结构,将pin针放置在可调节固定结构内,可调节固定结构可容纳不同型号的pin针,可对不同型号的pin针进行测量,减少了测量设备的数量,节约了成本;其次,本申请通过设置连通于可调节固定结构的容置空间,使得pin针可以进入容置空间内,增加了pin针的上下调节空间,进而可以通过可调节固定结构夹紧pin针不同的位置,测量到pin针的不同待测区域,给同一型号不同待测区域的pin针能够在一台设备上测量,提高了生产效率;另外,本申请通过设置贯穿于固定件、活动件和容置空间的测量光线入口,给光学测量仪器设置测量空间,节约了人工测量的成本,提高了测量的准确性。

    20、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,而非限制本申请。



    技术特征:

    1.一种测量组件,其特征在于,用于测量pin针,所述测量组件包括:

    2.根据权利要求1所述的测量组件,其特征在于,所述可调节固定结构包括第一凹槽和第一凸台,所述第一凹槽设置在所述固定件上,所述pin针放置在所述第一凹槽内,所述第一凸台设置在所述活动件上,所述第一凸台位于所述第一凹槽内,以固定所述pin针。

    3.根据权利要求2所述的测量组件,其特征在于,所述第一凹槽设置为v形槽,所述第一凸台设置为v形凸台,所述v形凸台位于所述v形槽内,以固定所述pin针。

    4.根据权利要求1所述的测量组件,其特征在于,所述测量组件包括调节块,所述调节块设置在所述容置空间内,所述调节块的顶面不低于所述测量光线入口的底面,不高于所述测量光线入口的顶面。

    5.根据权利要求4所述的测量组件,其特征在于,所述调节块的厚度设置为顶面与所述测量光线入口的底面平齐。

    6.根据权利要求4所述的测量组件,其特征在于,所述底座上具有第一平台、第二平台和第三平台,所述第一平台和所述第三平台位于所述第二平台的两侧,所述固定件设置在所述第一平台上,所述调节块设置在所述第二平台上,所述活动件设置在所述第三平台上。

    7.根据权利要求6所述的测量组件,其特征在于,所述第二平台上设置有凹槽,所述调节块底部设置有凸台,所述凸台设置在所述凹槽内。

    8.根据权利要求7所述的测量组件,其特征在于,所述固定件上设置有第一连接孔,所述第一平台上设置有第二连接孔,所述第一连接孔和所述第二连接孔同轴设置;

    9.根据权利要求1所述的测量组件,其特征在于,所述活动件上设置有第三通孔,所述底座上设置有第四连接孔;

    10.根据权利要求1所述的测量组件,其特征在于,所述活动件上设置有第一通孔,所述底座上设置有第一凹槽,所述测量组件包括销钉和弹性件,所述弹性件设置在所述销钉上,所述销钉设置在所述第一通孔和所述第一凹槽内,以使所述活动件弹性连接在所述底座上。


    技术总结
    本申请公开了一种测量组件,用于测量PIN针,所述测量组件包括:底座;固定件,设置在所述底座上;活动件,活动连接在所述底座上,且与所述固定件相对设置,所述底座与所述活动件、所述固定件之间形成容置空间;测量光线入口,贯穿设置于所述固定件、所述活动件和所述容置空间;所述固定件和所述活动件之间设置有可调节固定结构,所述可调节固定结构连通于所述容置空间,并用于固定所述PIN针。本申请通过在固定件和活动件之间设置可调节固定结构,可调节固定结构大小可调节,并用于固定PIN针,可对不同尺寸的PIN针进行测量,减少了测量设备的数量,节约了成本,提高了生产效率。

    技术研发人员:孙虎
    受保护的技术使用者:深圳市大富方圆成型技术有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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