本揭露涉及一种装置，尤其涉及一种具有测试功能的电子装置。
背景技术：
1、在高解析度的产品的制造过程中，由于高解析度的产品测试电路的布局空间可能受限于基板的周边区的面积大小，因此不易设计测试电路来有效测试显示区的功能元件，进而导致高解析度的产品的生产良率不佳。
技术实现思路
1、本揭露是针对一种具有测试功能的电子装置。
2、根据本揭露的实施例，本申请的电子装置具有显示区以及周边区。周边区邻近于显示区。周边区包括第一测试电路区以及第二测试电路区。第一测试电路区包括多个第一开关元件。多个第一开关元件沿着第一方向排列。第二测试电路区邻近于第一测试电路区，并且包括多个第二开关元件。多个第二开关元件沿着第二方向排列。第一方向不同于第二方向。
3、本揭露的电子装置可在周边区设置多个测试电路区，以对显示区实现有效的测试功能。
4、为让本揭露的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
1.一种电子装置，其特征在于，具有显示区以及周边区，其中所述周边区邻近于所述显示区，其中所述周边区包括：
2.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述第一方向与所述第二方向之间的夹角为锐角。
3.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的电子装置，其特征在于，所述第一方向与所述第三方向之间的夹角为锐角。
5.根据权利要求4所述的电子装置，其特征在于，所述第一方向与所述第二方向之间的夹角相同于所述第一方向与所述第三方向之间的夹角。
6.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述第二测试电路区设置于所述显示区以及多个栅极驱动电路之间。
7.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，多个栅极驱动电路设置于所述第二测试电路区以及所述显示区之间。
8.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述周边区还包括第四测试电路区，所述第一测试电路以及所述第四测试电路区分别设置于所述显示区的两侧。
9.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述第一开关的数量大于所述第二开关的数量。
10.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述显示区为多边形，并且所述多边形的每一个内角大于90度。
