一种高频大带宽的高性能声表面波滤波器的制作方法

    技术2026-05-03  12


    本发明涉及声表面波器件,具体涉及一种高频大带宽的高性能声表面波滤波器。


    背景技术:

    1、射频滤波器是射频前端电路的核心器件,是移动通讯、物联网以及汽车电子的基础和关键环节,作用是保留特定频段内的信号,将特定频段外的信号滤除,从而提高信号的抗干扰性及信噪比,主要形式包括滤波器、双工器、多工器、信号提取器等器件单元。声表面波滤波器具有体积小、一致性好、可靠性高、损耗低、滤波性能佳等特点,5g时代信号频段划分紧凑,临近频段间隙小,导致无线通信朝着更高的频段发展,随着信号工作频率的提高、工作带宽的扩大,声表面滤波器也朝着高频段、大带宽方向发展。

    2、声表面波滤波器的频率设计主要取决于其压电基底激发的声波声速,大带宽设计主要取决于其压电材料及其切向、电极材料及尺寸、膜层拓扑结构。传统的声表面波滤波器都是在钽酸锂(litao3)、铌酸锂(linbo3)等单晶体材料上制作完成,一般声速在3800m/s左右,相对带宽一般4%左右,q值一般低于1000,限制了其在高频段、大带宽等方面的应用。为了满足移动终端对高性能宽带滤波器的需求,迫切需要设计一种高频、大带宽、低损耗、散热性好的声表面波滤波器。


    技术实现思路

    1、针对现有技术存在的上述不足,本发明要解决的技术问题是:如何提供一种能实现高频、大带宽、低损耗、散热性好的高频大带宽的高性能声表面波滤波器。

    2、为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:

    3、一种高频大带宽的高性能声表面波滤波器,包括电极结构层、压电薄膜层和衬底层,还包括高声速层;

    4、所述高声速层位于所述电极结构层和所述压电薄膜层之间,且所述高声速层采用声速高、散热性好的材料制备而成;

    5、所述电极结构层位于所述压电薄膜层表面。

    6、优选的,还包括功能层,所述功能层位于所述高声速层和所述压电薄膜层之间。

    7、优选的,还包括功能层,所述功能层位于所述高声速层和所述衬底层之间。

    8、优选的,还包括第一功能层和第二功能层,所述第一功能层位于所述压电薄膜层和所述高声速层之间,所述第二功能层位于所述高声速层和所述衬底层之间。

    9、优选的,还包括多晶硅结构层,所述多晶硅结构层位于所述衬底层表面。

    10、优选的,所述高声速层采用以下材料中的至少一种材料制成:碳化硅、金刚石。

    11、优选的,所述电极结构层为叉指电极,所述电极结构层采用以下材料中的至少一种材料制成:铝、铜、金、铂、铜铝合金、多层复合电极。

    12、优选的,所述压电薄膜层采用以下材料中的至少一种材料制成:铌酸锂、钽酸锂、石英、四硼酸锂、硅酸镓镧、铌酸镓镧。

    13、优选的,所述功能层采用以下材料中的至少一种材料制成:氮化硅、二氧化硅。

    14、优选的,所述衬底层采用以下材料中的至少一种材料制成:硅、蓝宝石、碳化硅、金刚石、尖晶石。

    15、优选的,所述压电薄膜层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述第一功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述第二功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述高声速层的厚度取值范围为0.01λ~3λ,λ为周期。

    16、优选的,所述高声速层采用碳化硅制成,功能层采用二氧化硅制成,电极结构层采用铜金属制成,压电薄膜层采用x-45°y切铌酸锂制成,衬底层采用硅制成;所述高声速层碳化硅的厚度为λ,所述功能层二氧化硅的厚度为0.3λ,所述电极结构层铜的厚度为0.02λ,所述压电薄膜层x-45°y切铌酸锂的厚度0.3λ,所述衬底层硅的厚度为0.35mm。

    17、与现有技术相比,本发明所涉及结构的声速大于6000m/s,在频率大于6.3ghz情况下,q值大于3000,相对带宽可达9.3%~10.2%。与普通声表面波滤波器相比,本发明在压电薄膜层下嵌入了高声速层,使得声表面波在压电薄膜层和高声速层界面处被反射,抑制了声波的向下泄露,因此,本发明能获得声速和q值高于常规衬底结构的声波模式,利用激励的高声速和高q值声波模式实现超高频、低损耗的高性能声表面波滤波器的设计。同时本申请的声表面波滤波器结构具有良好的散热性,使得本发明所设计的多层薄膜结构声表面波滤波器具有高频、大带宽、低损耗、散热性好的特点,满足了通信设备对高频、大带宽、低损耗、散热性好的声表面波滤波器设计要求,且该结构使用的制备工艺容易实现,易于大规模推广。



    技术特征:

    1.一种高频大带宽的高性能声表面波滤波器,包括电极结构层、压电薄膜层和衬底层,其特征在于,还包括高声速层;

    2.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,还包括功能层,所述功能层位于所述高声速层和所述压电薄膜层之间。

    3.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,还包括功能层,所述功能层位于所述高声速层和所述衬底层之间。

    4.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,还包括第一功能层和第二功能层,所述第一功能层位于所述压电薄膜层和所述高声速层之间,所述第二功能层位于所述高声速层和所述衬底层之间。

    5.根据权利要求1到4任一所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,还包括多晶硅结构层,所述多晶硅结构层位于所述衬底层表面。

    6.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,所述高声速层采用以下材料中的至少一种材料制成:碳化硅、金刚石。

    7.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,所述电极结构层为叉指电极,所述电极结构层采用以下材料中的至少一种材料制成:铝、铜、金、铂、铜铝合金、多层复合电极。

    8.根据权利要求1所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,所述压电薄膜层采用以下材料中的至少一种材料制成:铌酸锂、钽酸锂、石英、四硼酸锂、硅酸镓镧、铌酸镓镧。

    9.如权利要求2到4任一所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,所述压电薄膜层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述第一功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述第二功能层的厚度取值范围为0.01λ~5λ,所述高声速层的厚度取值范围为0.01λ~3λ,λ为周期。

    10.如权利要求9所述的高频大带宽的高性能声表面波滤波器,其特征在于,所述高声速层采用碳化硅制成,所述功能层采用二氧化硅制成,所述电极结构层采用铜金属制成,所述压电薄膜层采用x-45°y切铌酸锂制成,所述衬底层采用硅制成;所述高声速层碳化硅的厚度为λ,所述功能层二氧化硅的厚度为0.3λ,所述电极结构层铜的厚度为0.02λ,所述压电薄膜层x-45°y切铌酸锂的厚度0.3λ,所述衬底层硅的厚度为0.35mm。


    技术总结
    本发明公开了一种高频大带宽的高性能声表面波滤波器,包括电极结构层、压电薄膜层和衬底层,还包括高声速层;所述高声速层位于所述电极结构层和所述压电薄膜层之间,且所述高声速层采用声速高、散热性好的材料制备而成;所述电极结构层位于所述压电薄膜层表面。本发明所涉及结构的声速大于6000m/s,在频率大于6.3GHz情况下,Q值大于3000,相对带宽可达9.3%~10.2%,因此,本发明能获得声速和Q值高于常规衬底结构的声波模式,利用激励的高声速和高Q值声波模式实现超高频、低损耗的高性能声表面波滤波器的设计。

    技术研发人员:马晋毅,贺艺,陈平静,陈华志,罗文汀,陈彦光,徐瑞豪,张婷杨,潘祺,贺贞,胡丞稷,罗鸿飞,肖强,高钰奇
    受保护的技术使用者:中国电子科技集团公司第二十六研究所
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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