一种用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路和方法与流程

    技术2026-03-19  54


    本公开涉及输出负载检测,更具体地说,涉及用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路和方法。


    背景技术:

    1、对于无线通信设备,通常在预定条件下进行与线性相关的校准。在实际中,无线通信设备的天线输出负载可能会变化,这导致不同的非线性特性,例如不同的幅度至幅度(amam)失真和幅度至相位(ampm)失真,而在预定条件下进行的校准所达成的校准结果无法使无线通信设备在输出负载变化时达到相同的性能,例如误差向量幅度(error vectormagnitude,evm)。例如,当无线通信设备(更具体地说,其天线)被用户持有时的输出负载与无线通信设备未被用户持有时的输出负载可能不同。因此,如果在无线通信设备未被用户持有的条件下对无线通信设备进行校准,当无线通信设备的天线被用户持有时,无线通信设备的性能(例如,evm)可能会下降。

    2、因此,有必要提供一种新颖的架构和相关方法,能够检测输出负载的变化,并相应地触发重新校准和/或相关设置调整。


    技术实现思路

    1、本公开提供用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路和方法。

    2、在一可选的实施例中,本公开提供一种用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路,包括:至少一个发射信号强度指示器(tssi)电路,被配置为根据第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果,并根据第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果;以及控制器,与该至少一个tssi电路耦接,被配置为根据该第一tssi结果和该第二tssi结果确定是否检测到该发射电路的该输出阻抗变化。

    3、在另一可选的实施例中,本公开提供一种用于检测发射电路输出阻抗变化的方法,适用于检测电路,该方法包括:利用该检测电路的至少一个发射信号强度指示器(tssi)电路根据第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果,并根据第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果;以及利用该检测电路的控制器根据该第一tssi结果和该第二tssi结果来确定是否检测到该发射电路的该输出阻抗变化。



    技术特征:

    1.一种用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路,其特征在于,包括:

    2.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,该至少一个tssi电路包括:

    3.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,该至少一个tssi电路包括:

    4.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于:

    5.如权利要求3所述的检测电路,其特征在于,该可编程相位tssi电路包括:

    6.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于:

    7.如权利要求3所述的检测电路,其特征在于,该可编程相位tssi电路包括:

    8.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,当该第一tssi结果和该第二tssi结果中任何一个的变化大于预定阈值时,该控制器被配置为确定检测到该发射电路的该输出阻抗变化。

    9.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,该控制器被配置为通过计算该第一tssi结果和该第二tssi结果之间的差异来生成增量tssi结果,并且当该第一tssi结果和该增量tssi结果中任何一个的变化大于预定阈值时,该控制器被配置为确定检测到该发射电路的该输出阻抗变化。

    10.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,该第一相位偏移和该第二相位偏移设置为使该第二tssi结果在史密斯图上与该第一tssi结果正交。

    11.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,该控制器被配置为通过计算该第一tssi结果和该第二tssi结果之间的差异来生成增量tssi结果,并且该第一相位偏移和该第二相位偏移设置为使该增量tssi结果在史密斯图上与该第一tssi结果正交。

    12.一种用于检测发射电路输出阻抗变化的方法,适用于检测电路,其特征在于,该方法包括:

    13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,利用该检测电路的至少一个tssi电路根据该第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果并根据该第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果包括:

    14.如权利要求12所述的方法,其特征在于,利用该检测电路的至少一个tssi电路根据该第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果并根据该第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果包括:

    15.如权利要求13所述的方法,其特征在于,利用该第一tssi电路根据该第一相位偏移生成该第一tssi结果包括:

    16.如权利要求14所述的方法,其特征在于,利用该可编程相位tssi电路根据该第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果并根据该第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果包括:

    17.如权利要求13所述的方法,其特征在于,利用该第一tssi电路根据该第一相位偏移生成该第一tssi结果包括:

    18.如权利要求14所述的方法,其特征在于,利用该可编程相位tssi电路根据该第一相位偏移生成该发射电路的第一tssi结果,并根据该第二相位偏移生成该发射电路的第二tssi结果包括:

    19.如权利要求12所述的方法,其特征在于,利用该检测电路的控制器根据该第一tssi结果和该第二tssi结果来确定是否检测到该发射电路的该输出阻抗变化包括:

    20.如权利要求12所述的方法,其特征在于,通过计算该第一tssi结果和该第二tssi结果之间的差异来生成增量tssi结果,利用该检测电路的该控制器根据该第一tssi结果和该第二tssi结果来确定是否检测到该发射电路的该输出阻抗变化包括:


    技术总结
    本发明提供用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路和方法。在一可选的实施例中,一种用于检测发射电路输出阻抗变化的检测电路可包括:至少一个发射信号强度指示器(TSSI)电路,被配置为根据第一相位偏移生成该发射电路的第一TSSI结果,并根据第二相位偏移生成该发射电路的第二TSSI结果;以及控制器,与该至少一个TSSI电路耦接,被配置为根据该第一TSSI结果和该第二TSSI结果确定是否检测到该发射电路的该输出阻抗变化。

    技术研发人员:詹维嘉,刘慧贤
    受保护的技术使用者:联发科技股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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