一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡

    技术2026-01-20  6


    本技术涉及荧光标准卡,具体涉及一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡。


    背景技术:

    1、荧光材料由金属(锌、铬)硫化物或稀土氧化物与微量活性剂配合经煅烧而成,可在紫外光(200~400nm)照射下,根据颜料中金属和活化剂种类、含量的不同,而呈现出各种颜色的可见光,现有技术中,通常通过荧光分析仪对待测物质上标记的特定荧光物质的激发、接收和处理,进而分析出待测物的含量,但是荧光分析仪在进行检测前,需要进行校准和质控,对荧光分析仪进行校准比较简单的方法是通过荧光标准卡来校准和质控,但是目前的荧光标准卡不便于对不同浓度的荧光物质进行配制;

    2、经检索,专利公开号为cn216696068u的实用新型公开了一种用于荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其不需要制备不同浓度的荧光材料、不需要通过不同的面积制备不同荧光强度的荧光材料,在固定荧光带强度的情况下,通过简单方便地更换不同透光率的滤光膜,得到具有梯度的荧光标准卡,从而能够方便地对荧光分析仪进行校准测试,其虽然便于通过更换滤光膜对荧光分析仪进行测试,但是目前的荧光标准卡通常较薄,在放置时容易因外界因素出现弯折情况,弯折时产生的裂痕会对荧光分析仪的校准测试效果造成影响,从而会导致荧光标准卡报废。


    技术实现思路

    1、(一)解决的技术问题

    2、针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,以解决背景技术中提出的弯折时产生的裂痕会对荧光分析仪的校准测试效果造成影响的问题。

    3、(二)技术方案

    4、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,包括卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板和连接组件;

    5、所述荧光带设置为多个,多个所述荧光带均安装于所述卡体上;

    6、所述滤光膜可拆卸设置于每个所述荧光带的上侧;

    7、所述定位条设置为多个,多个所述滤光膜分别滑动安装于多个所述定位条之间;

    8、所述防折板可拆卸安装于所述卡体的下侧,且所述防折板与多个所述定位条之间固定连接有多个防护座;

    9、所述连接组件设置为两个,两个所述连接组件分别对称设置于所述防折板的两侧。

    10、作为本申请优选的技术方案,所述连接组件包括:

    11、连接侧架,所述连接侧架可拆卸安装于所述防折板的一侧;

    12、连接板,所述连接板设置为两个,两个所述连接板对称安装于所述连接侧架上;

    13、连接螺钉,所述连接螺钉螺纹连接在每个所述连接板与所述防折板之间。

    14、作为本申请再进一步的方案,所述防护座包括:

    15、防护架,所述防护架固定连接在相邻的两个所述定位条之间;

    16、防护板,所述防护板固定连接在所述防护架与所述防折板之间;

    17、防护条,所述防护条安装于所述防护架的一侧。

    18、在前述方案的基础上,所述滤光膜上固定连接有定位板,所述定位板上固定连接有定位块,所述定位条上开设有用于所述定位板和所述定位块进行滑动的定位口和定位槽。

    19、进一步说明的是,所述卡体上开设有多个用于所述荧光带进行安装的安装槽。

    20、另外需说明的是,多个所述防护架分别错位设置于所述卡体的两侧。

    21、(三)有益效果

    22、与现有技术相比,本实用新型提供了一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,具备以下有益效果:

    23、1.本实用新型中,通过卡体和多个安装槽的配合,便于对多个荧光带进行安装,通过卡体、多个荧光带和多个滤光膜的配合,便于对荧光分析仪进行校准测试;

    24、2.本实用新型中,通过多个防护座和多个定位条的配合,便于对多个滤光膜进行可拆卸安装,以便于对多个不同透光率的滤光膜进行更换,从而便于得到具有不同梯度的荧光标准卡,进而可以对荧光分析仪进行多次校准测试;

    25、3.本实用新型中,通过防折板和多个防护座的配合,可以对卡体的底部和侧边进行全方位防护,以便于防止卡体弯折,从而便于减少弯折时产生的裂痕对荧光分析仪的校准测试效果的影响;

    26、4.本实用新型中,通过在防折板上对两个连接组件进行安装和拆卸,便于在防折板和多个防护座之间对卡体进行安装和拆卸,从而便于对卡体进行更换;

    27、5.因此,该荧光分析仪校准测试的荧光标准卡对比现有技术弯折时产生的裂痕会对荧光分析仪的校准测试效果造成影响的问题,其便于通过卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板、防护座和连接组件的配合对荧光分析仪进行校准测试,同时便于减少卡体弯折时产生的裂痕对荧光分析仪的校准测试效果的影响。



    技术特征:

    1.一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,包括:

    2.根据权利要求1所述的一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,所述连接组件包括:

    3.根据权利要求2所述的一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,所述防护座包括:

    4.根据权利要求3所述的一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,所述滤光膜(3)上固定连接有定位板(12),所述定位板(12)上固定连接有定位块(13),所述定位条(4)上开设有用于所述定位板(12)和所述定位块(13)进行滑动的定位口和定位槽。

    5.根据权利要求4所述的一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,所述卡体(1)上开设有多个用于所述荧光带(2)进行安装的安装槽。

    6.根据权利要求5所述的一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,其特征在于,多个所述防护架(9)分别错位设置于所述卡体(1)的两侧。


    技术总结
    本技术公开了一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡,包括卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板和连接组件,多个荧光带均安装于卡体上,滤光膜可拆卸设置于每个荧光带的上侧,多个滤光膜分别滑动安装于多个定位条之间,且防折板与多个定位条之间固定连接有多个防护座,两个连接组件分别对称设置于防折板的两侧,连接组件包括连接侧架、连接板和连接螺钉,连接侧架可拆卸安装于防折板的一侧。该荧光分析仪校准测试的荧光标准卡便于通过卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板、防护座和连接组件的配合对荧光分析仪进行校准测试,同时便于减少卡体弯折时产生的裂痕对荧光分析仪的校准测试效果的影响。

    技术研发人员:石博文,张博,董润蕾,李悦,黄洋铃,苏子轩
    受保护的技术使用者:河北工程大学
    技术研发日:20240226
    技术公布日:2024/10/24
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