一种批量测量装置的制作方法

    技术2025-11-25  4


    本申请涉及测量装置领域,特别是涉及一种批量测量装置。


    背景技术:

    1、目前批量测量装置的应用过程中,由于批量测量装置仅能够放置单一尺寸的产品,应用受限。

    2、亟需对批量测量装置进行改进,以保证多种尺寸产品的批量测量需要。


    技术实现思路

    1、本申请主要提供一种批量测量装置,可以同时对多种尺寸的多个产品进行测量,能够提高测试效率。

    2、为解决上述技术问题,本申请采用的技术方案是:提供一种批量测量装置,其包括底座和固定件:其中,底座设有多个尺寸不完全相同的容纳槽,容纳槽用于容纳待测产品;固定件用于将待测产品固定在容纳槽中。

    3、其中,固定件包括弹性件,其凸设在容纳槽的侧壁上,当待测产品容纳于容纳槽中时,弹性件弹性支撑在容纳槽的侧壁与待测产品的侧壁之间。

    4、其中,弹性件为弹性探针,弹性探针的第一端与容纳槽的侧壁连接,第二端为自由端,当待测产品容纳于容纳槽中时,弹性探针的第二端与待测产品抵接。

    5、其中,多个容纳槽包括第一容纳槽以及第二容纳槽,将位于第一容纳槽中的弹性件定义为第一弹性件,位于第二容纳槽中的弹性件定义为第二弹性件,其中,第一容纳槽的尺寸大于第二容纳槽的尺寸,第一弹性件的弹性压缩比小于第二弹性件的弹性压缩比。

    6、其中,第一弹性件与待测产品抵接一端的直径大于第二弹性件与待测产品抵接一端的直径。

    7、其中,容纳槽的至少一侧设有拾取槽,拾取槽与容纳槽连通,以裸露容纳槽中待测产品的部分侧壁。

    8、其中,多个容纳槽排列呈多个容纳列,同一容纳列中的容纳槽的尺寸相同。

    9、其中,底座设有多个尺寸标记,多个尺寸标记与多个容纳列一一对应且相邻设置,尺寸标记用于标识对应的容纳列中容纳槽的尺寸。

    10、其中,底座设有多个第一定位标记,多个第一定位标记与多个容纳槽一一对应且相邻设置,第一定位标记用于设备对容纳槽进行定位。

    11、其中,底座还设有第二定位标记,用于设备对底座进行定位。

    12、本申请的有益效果是:本申请的批量测量装置中,由于多个容纳槽的尺寸不完全相同,使得容纳槽可用于容纳不同尺寸的待测产品,使得批量测量装置可以同时容纳多个不同尺寸的待测产品,提高测试效率,同时固定件对待测产品进行固定,保证测试结果的准确性。



    技术特征:

    1.一种批量测量装置,其特征在于,包括:

    2.根据权利要求1所述的批量测量装置,其特征在于,所述固定件包括:

    3.根据权利要求2所述的批量测量装置,其特征在于,所述弹性件为弹性探针,所述弹性探针的第一端与所述容纳槽的侧壁连接,第二端为自由端,当所述待测产品容纳于所述容纳槽中时,所述弹性探针的第二端与所述待测产品抵接。

    4.根据权利要求2所述的批量测量装置,其特征在于,多个所述容纳槽包括第一容纳槽以及第二容纳槽,将位于所述第一容纳槽中的所述弹性件定义为第一弹性件,位于所述第二容纳槽中的所述弹性件定义为第二弹性件,其中,所述第一容纳槽的尺寸大于所述第二容纳槽的尺寸,所述第一弹性件的弹性压缩比小于所述第二弹性件的弹性压缩比。

    5.根据权利要求4所述的批量测量装置,其特征在于,所述第一弹性件与所述待测产品抵接一端的直径大于所述第二弹性件与所述待测产品抵接一端的直径。

    6.根据权利要求1所述的批量测量装置,其特征在于,所述容纳槽的至少一侧设有拾取槽,所述拾取槽与所述容纳槽连通,以裸露所述容纳槽中所述待测产品的部分侧壁。

    7.根据权利要求1所述的批量测量装置,其特征在于,多个所述容纳槽排列呈多个容纳列,同一容纳列中的所述容纳槽的尺寸相同。

    8.根据权利要求7所述的批量测量装置,其特征在于,所述底座设有多个尺寸标记,多个所述尺寸标记与多个所述容纳列一一对应且相邻设置,所述尺寸标记用于标识对应的所述容纳列中所述容纳槽的尺寸。

    9.根据权利要求1所述的批量测量装置,其特征在于,所述底座设有多个第一定位标记,多个所述第一定位标记与多个所述容纳槽一一对应且相邻设置,所述第一定位标记用于设备对所述容纳槽进行定位。

    10.根据权利要求1所述的批量测量装置,其特征在于,所述底座还设有第二定位标记,用于设备对所述底座进行定位。


    技术总结
    本申请公开了一种批量测量装置,其包括底座和固定件:其中,底座设有多个尺寸不完全相同的容纳槽,容纳槽用于容纳待测产品;固定件用于将待测产品固定在容纳槽中。由于多个容纳槽的尺寸不完全相同,使得利用批量测量装置可以同时对多个不同尺寸的待测产品进行测试,提高测试效率,同时固定件对待测产品进行固定,保证测试结果的准确性。

    技术研发人员:周海燕,郭瑞亮,宁福英
    受保护的技术使用者:苏州通富超威半导体有限公司
    技术研发日:20231214
    技术公布日:2024/10/24
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