一种可通高压的原位XRD测试夹具

    技术2025-11-06  3


    本技术涉及原位xrd检测,具体涉及一种可通高压的原位xrd测试夹具。


    背景技术:

    1、原位xrd(x-ray diffraction,x射线衍射)检测技术,是指在样品受到一定的外部刺激(如温度、压力、气氛等)下,使用x射线衍射技术对样品进行分析。这种测试通常被用于研究材料在不同条件下的晶体结构变化、相变、反应动力学等方面的信息。可通高压原位xrd测试可以在高压条件下进行原位xrd测试。这种测试通常被用于研究材料在高压条件下的相变、晶体结构变化等方面的信息。为了进行高压原位xrd测试,需要使用专门的实验装置,如高压原位xrd测试夹具。这种装置能够在高压条件下保持样品的稳定性,并控制样品受到的压力和温度等参数。通过调节实验装置,可以控制样品处于不同的高压区域,并通过x射线衍射技术对样品进行分析。

    2、目前市场上的可通高压原位xrd测试夹具普遍体积较大,并且由于原位xrd可利用空间有限,无法保证样品在密闭环境下进行测试,导致无法准确控制和监测高压条件,导致测试精度较低,限制了高压研究的深入。


    技术实现思路

    1、本实用新型针对现有技术中的不足,提供了一种可通高压的原位xrd测试夹具,具体方案如下:

    2、一种可通高压的原位xrd测试夹具,用于固定待测样品以被测试光线照射,包括壳体、导电金属件、固定件和通电端;

    3、所述通电端设置于所述壳体上,用于连接外部高压装置;

    4、所述壳体内部构成有密闭空间,所述导电金属件设置于所述密闭空间内并连接所述通电端,用于为所述待测样品提供高压电;

    5、所述壳体外表面设置有用于穿透所述测试光线的透光组件;

    6、所述固定件位于所述密闭空间内,用于固定所述待测样品,以使所述测试光线穿透所述透光组件照射到所述待测样品上并穿透所述透光组件衍射到外部测试设备上。

    7、在一个具体实施例中,所述壳体包括第一壳体和第二壳体,所述第一壳体和所述第二壳体开合连接,所述透光组件位于所述第二壳体上,所述通电端位于所述第一壳体上。

    8、在一个具体实施例中,所述第二壳体上分布有入射面和衍射面,所述透光组件包括第一透光件和第二透光件;

    9、所述第一透光件位于所述入射面上,用于使所述测试光线穿透所述入射面照射到所述待测样品上,所述第二透光件位于所述衍射面上,用于使所述测试光线穿透所述衍射面衍射到所述外部测试设备上。

    10、在一个具体实施例中,所述壳体内部形成一放置面,所述待测样品通过所述固定件固定于所述放置面上。

    11、在一个具体实施例中,所述第一透光件形成的平面和所述第二透光件形成的平面分别相对于所述放置面倾斜。

    12、在一个具体实施例中,还包括用于密封的密封件,所述密封件一侧连接所述第一壳体,另一侧连接所述第二壳体。

    13、在一个具体实施例中,所述密闭空间内还包括承载平台,所述承载平台外表面设置有绝缘层且内部包括导电结构,所述导电金属件通过所述承载平台与所述通电端电性连接。

    14、在一个具体实施例中,所述壳体上开设有一或多个气流通道,所述气流通道上设置有阀门。

    15、在一个具体实施例中,所述第二壳体上还设置有用于观察的观察窗口,所述观察窗口在所述放置面上的投影与所述待测样品在所述放置面上的投影部分重合。

    16、在一个具体实施例中,所述壳体上还开设有后盖,所述通电端位于所述后盖上。

    17、有益效果:本实用新型通过将整个高压测试装置固定于具有密闭空间的壳体内,并设置透光组件满足穿透测试光线和便于观察的测试需求,可以准确控制和监测高压条件,提高了测试精度和效率。并且缩小了整体体积,降低了制作和测试成本。



    技术特征:

    1.一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,用于固定待测样品以被测试光线照射,包括壳体、导电金属件、固定件和通电端;

    2.根据权利要求1所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述壳体包括第一壳体和第二壳体,所述第一壳体和所述第二壳体开合连接,所述透光组件位于所述第二壳体上,所述通电端位于所述第一壳体上。

    3.根据权利要求2所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述第二壳体上分布有入射面和衍射面,所述透光组件包括第一透光件和第二透光件;

    4.根据权利要求3所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述壳体内部形成一放置面,所述待测样品通过所述固定件固定于所述放置面上。

    5.根据权利要求4所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述第一透光件形成的平面和所述第二透光件形成的平面分别相对于所述放置面倾斜。

    6.根据权利要求2所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,还包括用于密封的密封件,所述密封件一侧连接所述第一壳体,另一侧连接所述第二壳体。

    7.根据权利要求1所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述密闭空间内还包括承载平台,所述承载平台外表面设置有绝缘层且内部包括导电结构,所述导电金属件通过所述承载平台与所述通电端电性连接。

    8.根据权利要求1所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述壳体上开设有一或多个气流通道,所述气流通道上设置有阀门。

    9.根据权利要求4所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述第二壳体上还设置有用于观察的观察窗口,所述观察窗口在所述放置面上的投影与所述待测样品在所述放置面上的投影部分重合。

    10.根据权利要求1所述的一种可通高压的原位xrd测试夹具,其特征在于,所述壳体上还开设有后盖,所述通电端位于所述后盖上。


    技术总结
    本技术提供了一种可通高压的原位XRD测试夹具,用于固定待测样品以被测试光线照射,包括壳体、导电金属件、固定件和通电端;通电端设置与壳体上,用于连接外部高压装置;壳体内部构成有密闭空间,导电金属件设置于密闭空间内并连接通电端,用于为待测样品提供高压电;壳体外表面设置有用于穿透测试光线的透光组件;固定件位于密闭空间内,用于固定待测样品,以使测试光线穿透透光组件照射到待测样品上。本技术通过将整个高压测试装置固定于具有密闭空间的壳体内,并设置透光组件满足穿透测试光线和便于观察的测试需求,可以准确控制和监测高压条件,提高了测试精度和效率。并且缩小了整体体积,降低了制作和测试成本。

    技术研发人员:马静,沈洋,陈逸强,马飞越
    受保护的技术使用者:清华大学
    技术研发日:20240116
    技术公布日:2024/10/24
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