本技术涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试探针装置。
背景技术：
1、在半导体芯片的研发及大规模生产过程中，均需要对芯片的各类性能进行测试，芯片在制造过程中需要使用测试探针进行测试，以保证芯片品质符合生产需求。
2、公告号为cn216434188u的中国实用新型专利公开了一种芯片测试探针装置，其能够实现探针电路板的整体拆卸及更换，但是这个过程需要人工参与，一方面增加了工作人员的劳动强度；另一方面降低了整体测试效率。
技术实现思路
1、针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种芯片测试探针装置，能够自动对探针电路板进行拆卸及更换。
2、为了实现上述目的，本实用新型通过如下的技术方案来实现：一种芯片测试探针装置，包括底座和升降板，还包括：
3、电动转盘，所述电动转盘设置在所述底座上；
4、固定块，所述固定块固定安装在所述电动转盘上，所述固定块上开有容纳槽，所述容纳槽内设置有探针电路板，所述探针电路板与所述容纳槽相适应，所述探针电路板的底部固定安装有多根测试探针，所述探针电路板的两侧均开有锁定孔，所述固定块的顶部开有u型槽，所述u型槽沿横向贯穿、且与所述容纳槽连通；
5、限位块，所述限位块固定安装在所述底座上，所述限位块上开有测试槽，所述测试槽与所述探针电路板相适应；
6、移动块，所述移动块设置在所述升降板的底部，所述移动块的底部的两侧均设置有夹持机构，所述夹持机构包括锁定组件和伸缩组件，所述锁定组件包括固定板和锁定杆，所述固定板固定安装在所述移动块上，所述锁定杆沿横向穿过所述固定板、且与所述固定板滑动连接，所述伸缩组件用于控制所述锁定杆沿横向移动；以及
7、驱动机构，所述驱动机构用于控制所述移动块在所述升降板上移动。
8、进一步地，所述伸缩组件包括铁块、电磁铁和弹簧，所述铁块固定安装在所述锁定杆的外端面上，所述电磁铁固定安装在所述移动块上、且位于所述固定板的外侧，所述弹簧使得所述铁块具有靠近所述固定板的趋势。
9、进一步地，所述弹簧套设在所述锁定杆上，所述弹簧的两端分别与所述固定板和所述铁块固定连接。
10、进一步地，所述驱动机构包括导向杆、丝杠和电机，所述导向杆沿横向穿过所述移动块、且与所述移动块滑动连接，所述导向杆的两端均与所述升降板固定连接，所述丝杠沿横向穿过所述移动块、且与所述移动块螺纹连接，所述丝杠的两端均与所述移动块转动连接，所述电机用于控制所述丝杠旋转。
11、进一步地，所述容纳槽和所述测试槽的内壁上均固定安装有海绵垫。
12、进一步地，所述固定块的数量为多个，多个所述固定块沿周向间隔布置在所述电动转盘上。
13、本实用新型的有益效果：本实用新型提供的一种芯片测试探针装置，驱动机构控制移动块在电动转盘和限位块之间来回移动，配合夹持机构的夹持作用，夹持机构能够松开老化了的探针电路板，将老化了的探针电路板拆卸下来，接着还可以将限位槽内的新的探针电路板固定在移动块上以完成对探针电路板的更换，因此本装置能够自动对探针电路板进行拆卸及更换。
1.一种芯片测试探针装置，包括底座和升降板，其特征在于：还包括：
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述伸缩组件包括铁块、电磁铁和弹簧，所述铁块固定安装在所述锁定杆的外端面上，所述电磁铁固定安装在所述移动块上、且位于所述固定板的外侧，所述弹簧使得所述铁块具有靠近所述固定板的趋势。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述弹簧套设在所述锁定杆上，所述弹簧的两端分别与所述固定板和所述铁块固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述驱动机构包括导向杆、丝杠和电机，所述导向杆沿横向穿过所述移动块、且与所述移动块滑动连接，所述导向杆的两端均与所述升降板固定连接，所述丝杠沿横向穿过所述移动块、且与所述移动块螺纹连接，所述丝杠的两端均与所述移动块转动连接，所述电机用于控制所述丝杠旋转。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述容纳槽和所述测试槽的内壁上均固定安装有海绵垫。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述固定块的数量为多个，多个所述固定块沿周向间隔布置在所述电动转盘上。
