本技术涉及光模块，特别涉及一种光模块参数监控系统及耦合装置、调试装置。
背景技术：
1、光模块的生产过程中，耦合过程是整个生产过程中的关键环节，也是重点关注的工艺环节。耦合效果直接影响系统性能指标。随着光模块技术的发展，光模块的集成度越来越高，发送模块仅仅需要激光器和一个集成度很高的驱动芯片即可完成，此驱动芯片即负责驱动激光器，也负责激光器环境温度及其偏置电流的控制，接收部分基本由pd光电二极管和跨阻放大器组成，跨阻放大器可以调节放大倍数和采样接收电流功能。此时耦合环节和调试环节的部分工作越来越相似，都需要相关参数的监控。然而，现有的方案中都将耦合和调试作为两个独立的工作环节，耦合所用的工装系统和调试所用的工装系统相互独立。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的问题，本实用新型的第一个目的在于提供一种光模块参数监控系统，其特点是可以同时应用于光模块的耦合环节和调试环节中，只使用一套系统即可完成上述环节的数据监控要求，简化了生产过程中对工具的要求，提高了生产效率和光模块质量的稳定性。
2、为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种光模块参数监控系统，包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
3、上位机，通过第一通信连接线与数据采集装置连接；
4、数据采集装置，通过第二通信连接线与光模块承载板连接；
5、光模块承载板，设置有光模块插座，待测光模块通过光模块插座与光模块承载板固定连接；
6、上位机用于通过第一通信连接线向数据采集装置发送参数监控信息，数据采集装置用于接收参数监控信息，解析参数监控信息获得并通过第二通信连接线向光模块承载板发送参数监控指令，光模块承载板用于通过光模块插座向待测光模块的控制单元发送所述参数监控指令，所述待测光模块的控制单元用于接收所述参数监控指令，解析得到所述参数监控指令对应的参数及其获取上传操作和/或修改操作，并执行所述操作。
7、优选地，数据采集装置至少包括第一通信连接接口、主控单元、第二通信连接接口；其中，
8、第一通信连接接口，通过第一通信连接线与上位机连接；
9、主控单元的输入端与第一通信连接接口连接，主控单元的输出端与第二通信连接接口连接；
10、主控单元通过第一通信连接接口接收上位机发送的参数监控信息，解析参数监控信息获得并通过第二通信连接接口向光模块承载板发送参数监控指令，和/或，
11、主控单元通过第二通信连接接口接收数据采集装置发送的参数，通过第一通信连接接口向上位机发送参数。
12、优选地，光模块承载板还包括第三通信连接接口和光模块插座；其中，
13、光模块插座，固定连接待测光模块的电口；
14、第三通信连接接口，通过第二通信连接线与第二通信连接接口连接；第三通信连接接口，通过光模块插座与待测光模块的连接；
15、光模块承载板的第三通信连接接口接收到数据采集装置发送的参数监控指令后，通过光模块插座向待测光模块发送参数监控指令，和/或，
16、光模块承载板的光模块插座接收到待测光模块发送的参数后，通过第三通信连接接口向数据采集装置发送参数。
17、优选地，光模块承载板还包括差分信号发送端口和差分信号接收端口；其中，
18、差分信号发送端口，通过光模块插座与待测光模块的电口连接，用于接收来自待测光模块的高速差分电信号并对外发送；
19、差分信号接收端口，通过光模块插座与待测光模块的电口连接，用于接收外部的高速差分电信号并发送给待测光模块。
20、优选地，待测光模块还包括数字信号处理器、控制单元、光发射模组和光接收模组，其中，
21、数字信号处理器，与电口、光发射模组、光接收模组分别连接；数字信号处理器通过电口接收来自光模块承载板的高速差分电信号，经过处理后形成低速差分电信号，发送至光发射模组；
22、光发射模组，接收数字信号处理器处理后的低速差分电信号，转换为光信号并对外发送；
23、光接收模组，接收外部的光信号并转换为差分电信号，发送至数字信号处理器；
24、数字信号处理器接收来自光接收模组的低速差分电信号，处理后形成高速差分电信号，通过电口发送至光模块承载板；
25、控制单元与电口、数字信号处理器、光发射模组、光接收模组分别互连；控制单元，控制单元通过电口接收来自光模块承载板的参数监控指令，解析得到所对应的参数，修改参数和/或获取参数并通过电口向光模块承载板上传参数。
26、优选地，待测光模块的控制单元连接有至少一个存储模块，存储模块包括多个存储单元；
27、控制单元从光发射模组和/或光接收模组和/或数字信号处理器获取参数的值，将参数的值写入存储单元中；和/或，
28、控制单元从参数监控指令中获取参数的值，将参数的值写入存储单元中，控制单元从存储单元读取并根据参数的值配置光发射模组和/或光接收模组和/或数字信号处理器；
29、每个存储单元存储一个参数的值，每个存储单元的值所对应的参数由控制单元根据参数监控指令确定；
30、控制单元通过查询存储单元的值，获取参数。
31、优选地，存储模块包括多个存储页，每个存储页内包括有多个存储单元；每个存储页的页尾和下一存储页的页首通过链表指针连接起来，形成可循环查询的循环链表；控制单元通过查询循环链表，读取参数所在的存储单元的值，以获取参数。
32、本实用新型的另一目的在于提供一种光模块耦合装置，其特点是只使用一套参数监控系统即可完成耦合环节的数据监控要求，简化了生产过程中对工具的要求，提高了生产效率和光模块质量的稳定性。
33、为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种光模块耦合装置，包括上述的光模块参数监控系统，系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
34、上位机，通过第一通信连接线与数据采集装置连接，
35、数据采集装置，通过第二通信连接线与光模块承载板连接；
36、光模块承载板，设置有光模块插座，待测光模块通过光模块插座与光模块承载板固定连接；
37、还包括耦合平台，耦合平台包括承载板夹具和光纤夹具，光模块承载板固定于承载板夹具上；光纤夹具上夹持有光纤，光纤夹具按预设的位移路径和步进距离在耦合平台上移动，光纤夹具上的光纤端面跟随光纤夹具按预设的位移路径和步进距离相对于待测光模块移动；
38、上位机用于通过第一通信连接线向数据采集装置发送用于光耦合的参数监控信息，数据采集装置用于接收参数监控信息，解析参数监控信息获得并通过第二通信连接线向光模块承载板发送用于光耦合的参数监控指令，光模块承载板用于通过光模块插座向待测光模块的控制单元发送所述用于光耦合的参数监控指令，所述待测光模块的控制单元用于接收所述用于光耦合的参数监控指令，解析并执行所述用于光耦合的参数监控指令对应的参数的获取和上传；
39、用于光耦合的参数监控指令所对应的参数至少包括待测光模块的光接收模组中的光电二极管的光电流。
40、本实用新型的另一目的在于提供一种光模块调试装置，其特点是只使用一套参数监控系统即可完成调试环节的数据监控要求，简化了生产过程中对工具的要求，提高了生产效率和光模块质量的稳定性。
41、为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种光模块调试装置，包括上述的光模块参数监控系统，系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
42、上位机，通过第一通信连接线与数据采集装置连接，
43、数据采集装置，通过第二通信连接线与光模块承载板连接；
44、光模块承载板，设置有光模块插座，待测光模块通过光模块插座与光模块承载板固定连接；
45、还包括误码仪，误码仪通过光模块插座与待测光模块连接；
46、光模块的光发射模组和光接收模组之间设置有预设长度的光纤，光纤的一端连接光发射模组的光发射端，另一端连接光接收模组的光接收端；
47、上位机用于通过第一通信连接线向数据采集装置发送用于调试的参数监控信息，数据采集装置用于接收参数监控信息，解析所述参数监控信息获得并通过第二通信连接线向光模块承载板发送用于调试的参数监控指令，光模块承载板用于通过光模块插座向待测光模块的控制单元发送所述用于调试的参数监控指令，所述待测光模块的控制单元用于接收所述用于调试的参数监控指令，解析得到所述用于调试的参数监控指令对应的参数及其获取上传操作和/或修改操作，并执行所述操作；
48、参数监控指令所对应的参数至少包括dsp均衡参数、噪音压制度，前向纠错相关数据。
49、本实用新型的另一目的在于提供一种光模块调试装置，其特点是只使用一套参数监控系统即可完成调试环节的数据监控要求，简化了生产过程中对工具的要求，提高了生产效率和光模块质量的稳定性。
50、为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种光模块调试装置，包括上述的光模块参数监控系统，系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
51、上位机，通过第一通信连接线与数据采集装置连接，
52、数据采集装置，通过第二通信连接线与光模块承载板连接；
53、光模块承载板，设置有光模块插座，待测光模块通过光模块插座与光模块承载板固定连接；
54、还包括误码仪和示波模组，其中，
55、误码仪，通过光模块插座与待测光模块的连接；
56、示波模组，通过光模块插座与待测光模块的光发射模组连接；示波模组包括预设长度的光纤、光电转换器和示波器，其中，
57、光纤的一端连接光发射模组的光发射端，另一端连接光电转换器的光接收端；
58、光电转换器的电输出端连接示波器；
59、上位机用于通过第一通信连接线向数据采集装置发送用于调试的参数监控信息，数据采集装置用于接收参数监控信息，解析参数监控信息获得并通过第二通信连接线向光模块承载板发送用于调试的参数监控指令，光模块承载板用于通过光模块插座向待测光模块的控制单元发送所述用于调试的参数监控指令，光模块用于接收所述用于调试的参数监控指令，解析得到所述用于调试的参数监控指令对应的参数及其获取上传操作和/或修改操作，并执行所述操作；
60、用于调试的参数监控指令所对应的参数至少包括发射功率，偏置电流，环境温度。
61、本实用新型的有益效果在于:本实用新型的参数监控系统可同时应用于光模块的耦合和调试过程中，可以满足在多种耦合平台上完成硅光耦合环节的工艺要求，也可以在之后的调试环节中使用，以确定光模块的最优参数，因而可以加快光模块生产效率，提高光模块质量的稳定性。
1.一种光模块参数监控系统，其特征在于：包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
2.根据权利要求1所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述数据采集装置至少包括第一通信连接接口、主控单元、第二通信连接接口；其中，
3.根据权利要求2所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述光模块承载板还包括第三通信连接接口和光模块插座；其中，
4.根据权利要求3所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述光模块承载板还包括差分信号发送端口和差分信号接收端口；其中，
5.根据权利要求4所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述待测光模块还包括数字信号处理器、控制单元、光发射模组和光接收模组，其中，
6.根据权利要求5所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述待测光模块的控制单元连接有至少一个存储模块，所述存储模块包括多个存储单元；
7.根据权利要求6所述的一种光模块参数监控系统，其特征在于：所述存储模块包括多个存储页，每个存储页内包括有多个存储单元；所述每个存储页的页尾和下一存储页的页首通过链表指针连接起来，形成可循环查询的循环链表；控制单元通过查询循环链表，读取参数所在的存储单元的值，以获取所述参数。
8.一种光模块耦合装置，其特征在于：包括权利要求1-7中任一项所述的光模块参数监控系统，所述系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
9.一种光模块调试装置，其特征在于：包括权利要求1-7中任一项所述的光模块参数监控系统，所述系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
10.一种光模块调试装置，其特征在于：包括权利要求1-7中任一项所述的光模块参数监控系统，所述系统包括上位机、数据采集装置、光模块承载板；其中，
