本技术涉及内存条测试，特别涉及一种内存条的thb测试装置。
背景技术：
1、高温高湿测试是对产品进行的一种环境可靠性测试；即模拟产品存储、工作的温湿度环境，检验产品在此环境下一段时间后所受到的影响是否在可接受的范围内，随着工业化的进程现在几乎所有的工业产品都需要进行thb可靠性测试。
2、目前，内存条(如ddr5内存条)的thb测试中，需要把内存条插到服务器主板上进行供电，然后把服务器主板放到thb测试柜，设置好thb测试柜的测试条件之后即可进行测试；然而thb测试柜内部环境高温高湿，对服务器主板损伤大，服务器主板很容易在测试过程中损坏，测试成本过高；服务器主板损坏也容易造成内存条连带损坏，安全性不高；并且服务器主板体积相对较大，需要的测试空间大；并且搭配服务器主板进行thb测试时内存条上颗粒的输入电压调整的幅度受bios限制，调整幅度小，无法满足客户的加严测试需求。
技术实现思路
1、本实用新型的目的是提供一种内存条的thb测试装置，旨在解决现有内存条的thb测试成本高、安全性不高及测试需求受限等问题。
2、为解决上述技术问题，本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：提供一种内存条的thb测试装置，包括：测试柜、测试治具、电压适配器和pc控制模块；
3、所述测试柜内部设有加温加湿器件以使内部形成高温高湿环境；
4、所述测试治具置于所述测试柜内部，所述测试治具上设有cpld芯片和与所述cpld芯片连接的内存插槽；
5、所述电压适配器的输入端用于连接外部电压源，所述电压适配器的输出端引入所述测试柜内部且分别与所述cpld芯片和内存插槽连接；
6、所述pc控制模块的输出端引入所述测试柜内部且与所述cpld芯片连接。
7、进一步地，所述测试治具上设有输入连接器、过压电路和防短路电路；所述电压适配器的输出端、输入连接器、过压电路、防短路电路和内存插槽依次连接。
8、进一步地，所述测试治具上设有dc-dc转换电路，所述防短路电路、dc-dc转换电路和cpld芯片依次连接。
9、进一步地，所述测试治具上设有微型usb连接器和usb转接芯片；所述pc控制模块、微型usb连接器、usb转接芯片和cpld芯片依次连接。
10、进一步地，所述内存插槽设有多个且依次连接，所述cpld芯片分别通过信号线与多个内存插槽一一连接。
11、进一步地，所述测试治具上设有温湿度传感器，所述cpld芯片和任一所述内存插槽之间的信号线与所述温湿度传感器连接。
12、进一步地，所述测试治具上设有开关按键，所述开关按键与所述cpld芯片连接。
13、进一步地，所述测试治具上设有提示灯模块，所述提示灯模块与所述cpld芯片连接且用于显示所述内存插槽的状态。
14、进一步地，所述测试治具上设有蜂鸣器，所述蜂鸣器与所述cpld芯片连接且用于提示警报。
15、进一步地，所述测试治具上设有有源晶振，所述有源晶振与所述cpld芯片连接。
16、本实用新型实施例提供一种内存条的thb测试装置，包括：测试柜、测试治具、电压适配器和pc控制模块；测试柜内部设有加温加湿器件以使内部形成高温高湿环境；测试治具置于测试柜内部，测试治具上设有cpld芯片和与cpld芯片连接的内存插槽；电压适配器的输入端用于连接外部电压源，电压适配器的输出端引入测试柜内部且分别与cpld芯片和内存插槽连接；pc控制模块的输出端引入测试柜内部且与cpld芯片连接。本实用新型实施例设计了测试治具来替代服务器主板，测试治具的体积小，测试需要的空间小，兼容性和通用性高且成本低，并且可操作性高，输出电压可调，可以满足客户对电压加严测试的需求。
1.一种内存条的thb测试装置，其特征在于，包括：测试柜、测试治具、电压适配器和pc控制模块；
2.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有输入连接器、过压电路和防短路电路；所述电压适配器的输出端、输入连接器、过压电路、防短路电路和内存插槽依次连接。
3.根据权利要求2所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有dc-dc转换电路，所述防短路电路、dc-dc转换电路和cpld芯片依次连接。
4.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有微型usb连接器和usb转接芯片；所述pc控制模块、微型usb连接器、usb转接芯片和cpld芯片依次连接。
5.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述内存插槽设有多个且依次连接，所述cpld芯片分别通过信号线与多个内存插槽一一连接。
6.根据权利要求5所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有温湿度传感器，所述cpld芯片和任一所述内存插槽之间的信号线与所述温湿度传感器连接。
7.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有开关按键，所述开关按键与所述cpld芯片连接。
8.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有提示灯模块，所述提示灯模块与所述cpld芯片连接且用于显示所述内存插槽的状态。
9.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有蜂鸣器，所述蜂鸣器与所述cpld芯片连接且用于提示警报。
10.根据权利要求1所述的内存条的thb测试装置，其特征在于，所述测试治具上设有有源晶振，所述有源晶振与所述cpld芯片连接。
