一种单像素光强检测装置及方法

    技术2025-05-22  34


    本发明涉及光强测量,具体涉及一种单像素光强检测装置及方法。


    背景技术:

    1、当前,对于显示类面板,比如液晶、oled、led显示面板等,均由单像素发光,并控制像素的阵列的发光来实现特定图像信息的显示。在显示面板测试中,尤其是缺陷产品的测试和原因分析中,如果能对单个像素发光点的光强进行测量,将能够更加快速和精准地定位出可能的问题点位置,但是当前尚且没有相关的测试产品能测量单一像素点的光强。

    2、现有技术存在的缺点:

    3、1)在显示面板测试中,尤其是缺陷产品的测试和原因分析中,如果能对单个像素发光点的光强进行测量,将能够更加快速和精准地定位出可能的问题点位置,但是当前尚且没有相关的测试产品能测量单一像素点的光强。

    4、2)现阶段的光强测试设备主要是检测特定面积下的面板平均发光的光强,不能测量单一像素点光强。


    技术实现思路

    1、本发明提供了一种单像素光强检测装置及方法,解决了现有的技术在显示面板测试中,尤其是缺陷产品的测试和原因分析中,不能对单个像素发光点的光强进行测量,不能快速和精准地定位出可能的问题点位置,且现阶段的光强测试设备不能测量单一像素点光强的问题。

    2、本发明解决上述技术问题的技术方案如下:

    3、支撑筒体外侧面的上端均匀设置有多个调节装置,多个调节装置上均设置有信息处理器,摄像装置设置于其中一个调节装置上,多个信息处理器和摄像装置均电性连接于信息处理装置,支撑筒体的下方设置有弹性接触筒,透光移动装置设置于支撑筒体的底部,且透光移动装置设置于弹性接触筒的上方。

    4、本发明的有益效果是,通过支撑筒体设置的多个调节装置,运行阶段通过信息处理装置发出指令到调节装置,调节装置带动透光移动装置运动,使得调节装置从多个方向对透光移动装置进行张拉调整,实现了透光孔匹配单像素的效果。同时,本装置可以匹配现有的光强测量头,可以较低成本的实现单像素光强的检测。使用本装置可以根据用户感兴趣的像素区域提供单像素光强的自动检测,也可以降低单像素光强检测的复杂性。同时,用户选择感兴趣的区域之后,即可实现自动的单像素光强检。本装置基于透光移动装置和机器视觉来实现单像素光前检测的思路,为单像素光强的检测提供了一种思路,以及由此延伸出的其他设计思路。

    5、在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

    6、进一步,调节装置均电性连接于信息处理器。

    7、采用上述进一步方案的有益效果是,通过信息处理装置对信息处理器发出的指令,信息处理器的指令给到调节装置,使得调节装置带动透光移动装置进行运动,以此带动透光孔的边缘运动,实现透光孔匹配单像素的效果。

    8、进一步,透光移动装置的中间留有透光孔,透光孔的形状依据多个调节装置调节确定。

    9、采用上述进一步方案的有益效果是,透光孔的形状可以由固定透光移动装置上方的张紧绳调节。张紧绳数量越多时,对于不同方向、不同大小、不同形状的像素的匹配度越高。

    10、进一步,透光孔具有透光区和非透光区。

    11、采用上述进一步方案的有益效果是,透光孔具有透光区和非透光区,以实现透光孔匹配单像素的效果。

    12、进一步,调节装置包括张紧绳和转动部,张紧绳的一端连接于转动部,张紧绳的另一端连接于透光孔的边缘部位。

    13、采用上述进一步方案的有益效果是,张紧绳的一端绕设于转动部,使得调节装置在转动的同时能够带动张紧绳的缠绕,使得张紧绳对透光移动装置进行张拉,改变透光孔的形状和大小。

    14、进一步,张紧绳位于支撑筒体底部的位置处设置有转轮。

    15、采用上述进一步方案的有益效果是,张紧绳位于支撑筒体底部的位置处设置有转轮,通过转轮可以使得张紧绳具有收紧和张开的作用。以便对透光移动装置进行张拉,改变透光孔的形状和大小。

    16、进一步,支撑筒体的上端,且位于调节装置的上方处具有螺纹,螺纹与光强测量仪器匹配使用。

    17、采用上述进一步方案的有益效果是,本装置可以匹配现有的光强测量头,可以较低成本的实现单像素光强的检测。

    18、进一步,支撑筒体的上端,且位于调节装置的上方处具有橡胶头,橡胶头与光强测量仪器匹配使用。

    19、采用上述进一步方案的有益效果是,本装置可以匹配现有的光强测量头,可以较低成本的实现单像素光强的检测。

    20、进一步,弹性接触筒与支撑筒体螺纹配合或过盈配合。

    21、采用上述进一步方案的有益效果是,弹性接触筒与支撑筒体螺纹配合或过盈配合,方便弹性接触筒与支撑筒体拆分或装配。

    22、另一方面,一种单像素光强检测方法,基于一种单像素光强检测装置,光强检测方法具有以下步骤:

    23、调试阶段:

    24、s1:确定摄像装置和透光移动装置的位置和尺寸;

    25、s2:收集摄像装置采集的图像,并与空间位置进行比较,获取透光移动装置的位置和摄像装置的映射关系;

    26、s3:结合调节装置的调节分辨率建立透光移动装置的透光孔位置与调节装置之间的指令的映射关系;

    27、运行阶段:

    28、s4:将待测工件放置在弹性接触筒的下方;然后,摄像装置进行拍摄图像信息;

    29、s5:用户根据摄像装置采集的图像信息,选择单像素或多相邻多像素的区域;

    30、s6:利用信息处理装置根据用户选择的区域匹配透光孔应匹配的空间位置,并根据映射向调节装置发送指令;

    31、s7:调节装置带动透光移动装置运动;透光孔移动到指定位置;

    32、s8:摄像装置再次进行拍摄图像信息,并将采集到的图像信息与用户选择的待测像素区域做比较;

    33、s9:判断是否运动到指定的区域;

    34、s10:运动到指定的区域,运行结束;

    35、s11:未运动到指定的区域,重复步骤s7至s9。

    36、采用上述进一步方案的有益效果是,通过支撑筒体设置的多个调节装置,运行阶段通过信息处理装置发出指令到调节装置,调节装置带动透光移动装置运动,使得调节装置从多个方向对透光移动装置进行张拉调整,实现了透光孔匹配单像素的效果。同时,本装置可以匹配现有的光强测量头,可以较低成本的实现单像素光强的检测。使用本装置可以根据用户感兴趣的像素区域提供单像素光强的自动检测,也可以降低单像素光强检测的复杂性。同时,用户选择感兴趣的区域之后,即可实现自动的单像素光强检。本装置基于透光移动装置和机器视觉来实现单像素光前检测的思路,为单像素光强的检测提供了一种思路,以及由此延伸出的其他设计思路。



    技术特征:

    1.一种单像素光强检测装置,其特征在于,包括支撑筒体(1)、调节装置(2)、透光移动装置(3)、弹性接触筒(4)、信息处理装置(5)、信息处理器(6)以及摄像装置(7),所述支撑筒体(1)外侧面的上端均匀设置有多个所述调节装置(2),多个所述调节装置(2)上均设置有所述信息处理器(6),所述摄像装置(7)设置于其中一个所述调节装置(2)上,多个所述信息处理器(6)和所述摄像装置(7)均电性连接于所述信息处理装置(5),所述支撑筒体(1)的下方设置有所述弹性接触筒(4),所述透光移动装置(3)设置于所述支撑筒体(1)的底部,且所述透光移动装置(3)设置于所述弹性接触筒(4)的上方。

    2.根据权利要求1所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,多个所述调节装置(2)均电性连接于所述信息处理器(6)。

    3.根据权利要求1所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述透光移动装置(3)的中间留有透光孔(31),所述透光孔(31)的形状依据多个所述调节装置(2)调节确定。

    4.根据权利要求3所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述透光孔(31)具有透光区和非透光区。

    5.根据权利要求3所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述调节装置(2)包括张紧绳(21)和转动部(22),所述张紧绳(21)的一端连接于所述转动部(22),所述张紧绳(21)的另一端连接于所述透光孔(31)的边缘部位。

    6.根据权利要求5所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述张紧绳(21)位于所述支撑筒体(1)底部的位置处设置有转轮(211)。

    7.根据权利要求1所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述支撑筒体(1)的上端,且位于所述调节装置(2)的上方处具有螺纹,所述螺纹与光强测量仪器匹配使用。

    8.根据权利要求1所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述支撑筒体(1)的上端,且位于所述调节装置(2)的上方处具有橡胶头,所述橡胶头与光强测量仪器匹配使用。

    9.根据权利要求1所述的一种单像素光强检测装置,其特征在于,所述弹性接触筒(4)与所述支撑筒体(1)螺纹配合或过盈配合。

    10.一种单像素光强检测方法,其特征在于,基于权利要求1-9任一项所述的一种单像素光强检测装置,光强检测方法具有以下步骤:


    技术总结
    本发明涉及一种单像素光强检测装置及方法,包括支撑筒体、调节装置、透光移动装置、弹性接触筒、信息处理装置、信息处理器以及摄像装置,支撑筒体外侧面的上端均匀设置多个调节装置,多个调节装置上均设置有信息处理器,摄像装置设置于其中一个调节装置上,多个信息处理器和摄像装置均电性连接于信息处理装置,支撑筒体的下方设置有弹性接触筒,透光移动装置设置于支撑筒体的底部,且透光移动装置设置于弹性接触筒的上方。通过本机构,解决了现有的技术在显示面板测试中,尤其是缺陷产品的测试和原因分析中,不能对单个像素发光点的光强进行测量,不能快速和精准地定位出可能的问题点位置,且现阶段的光强测试设备不能测量单一像素点光强的问题。

    技术研发人员:陈基松,杨旭,马灵灵,杨浩,吴昆崇,林坚樟,苏燕,康梦娜,吴佳琪,许劭轩
    受保护的技术使用者:广州市工贸技师学院
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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