本发明及红外探测器不同波长响应度温度测试，尤其涉及一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法。
背景技术：
1、目前对探测器响应度的测试方法比较复杂而且单一化，大多测试都是进行相应光谱范围的测试研究，而且其测试设备比较昂贵、测试系统比较复杂。对于探测器吸收红外波长范围内的特定波长的响应度测试系统方法鲜有提及，而且普遍性不强。
2、专利公告号cn 106768351 b公开了一种红外探测器单模多变的响应度测试系统和方法，其具有比较灵活、方便、测试简单、成本低等特点，但该方案在测试过程中无法改变温度，从而会限制测试的范围，无法全面评估探测器的性能，容易增加误差，并且测试系统就无法根据测试需求进行灵活的调整和优化，从而降低了测试的灵活性和适应性，为此提出了一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法。
技术实现思路
1、本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法。
2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
3、一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法，包括：
4、s1、光源驱动器给光源提供电流并进行驱动，让光源发射红外激光；
5、s2、光功率控制器控制光源发射的光功率；
6、s3、将恒定功率的光源耦合到激光器光源的收光区；
7、s4、恒流电源测量出激光器光源的光电流；
8、s5、温控载台提供环境温度；
9、s6、测量光功率和光电流大小，计算响应度rs=w/a。
10、优选的，所述激光器光源由不同波长的ld芯片封装成tosa。
11、优选的，所述温控载台，根据实验要求可以实现-40°到85°变化，为红外探测器提供变温进行响应度温度系数测试。
12、优选的，所述光功率控制器给光源提供功率，光功率计能测量照射到红外探测器上的光功率。
13、本发明的有益效果是：
14、本方案通过激光器光源，可以提供780-1590之间30个光源对不同波段激光器响应度测试，达到波段覆盖广的效果，利用不同波长的激光ld去封的tosa做不同光源温控载台提供不同温度环境下的激光去做响应度测试，不同波长的tosa拆装简单而达到光源更换简单的效果，并且能提供多种波长多变响应度测试的效果，本方案还能同时实现不同波长、不同温度的激光器响应度测试的效果。
1.一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法，其特征在于，所述激光器光源由不同波长的ld芯片封装成tosa。
3.根据权利要求1所述的一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法，其特征在于，所述温控载台，根据实验要求实现-40°到85°变化，为红外探测器提供变温进行响应度温度系数测试。
4.根据权利要求3所述的一种红外探测器不同波长响应度温度系数测试方法，其特征在于，所述光功率控制器给光源提供功率，光功率计能测量照射到红外探测器上的光功率。
