本技术涉及芯片测试，尤其是一种滚轮芯片测试座。
背景技术：
1、芯片又称或称微电路，属于高科技产物的一种，芯片在正式投入使用之前，需要对芯片进行性能的测试，避免缺陷芯片投入使用带来隐患，而对于芯片的测试就需要用到芯片测试座。
2、现有技术中，中国专利文献(专利号：cn202222003784.6、专利名称：一种芯片测试用下压测试座)技术方案中公开了“包括上盖和底座，所述上盖设置为上下开口的方框结构，所述上盖和底座上下滑动相连，所述底座的上侧设置有和上盖开口对齐的安装槽，所述安装槽内安装有探针组件，所述底座在安装槽的相对两侧转动连接有用于将芯片压合在探针组件上侧的扣件，所述扣件的转动通过上盖上下移动来驱动；所述探针组件内设置有活动腔，所述活动腔内安装有冲压弹片针，所述冲压弹片针的上下两端分别通过上连通孔和下连通孔穿出活动腔，置于探针组件的上方和下方，所述冲压弹片针的上端的中部向下凹陷形成爪头。”
3、结合该专利文献的说明书记载内容以及附图看，上述方案中，该测试座通过扣件压在芯片上，使芯片稳定的贴合在探针组件的上侧，但测试座在测试芯片多次后，因扣件压在芯片位置固定，容易使扣件压合的位置磨损严重，不仅导致扣件寿命次数低，还影响芯片与探针接触性能。
技术实现思路
1、本实用新型克服了现有技术中的缺点，提供一种滚轮芯片测试座，能克服背景技术中提到的现有技术缺陷。
2、为了解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：
3、一种滚轮芯片测试座，包括底座，所述底座上方卡合连接有上盖，底座与上盖之间设置有检测装置，检测装置两侧转动设置有摇杆，摇杆端部转动设置有将芯片压合在检测装置上的滚轮。
4、更进一步地，所述上盖左右两侧设置有若干个第一长形孔，第一长形孔下方设置有若干个第一卡接件，上盖前后两侧设置有若干个第一固定孔。
5、更进一步地，所述摇杆设置有第二长形孔，第二长形孔滑动设置有第一钢销，第一钢销两端设置在第一固定孔内。
6、更进一步地，所述底座左右两侧设置有若干个滑动杆，滑动杆滑动设置在第一长形孔上，底座前后两侧设置有槽位，摇杆转动设置在槽位上，槽位两侧设置有第二固定孔。
7、更进一步地，所述滑动杆下方设置有若干个第一卡接位，第一卡接件与第一卡接位卡合连接。
8、更进一步地，所述摇杆中部下端设置有固定筒，固定筒插接有第二钢销，第二钢销两端设置在第二固定孔内。
9、更进一步地，所述底座分布设置有若干个第一弹簧，第一弹簧端部抵在上盖上。
10、更进一步地，所述检测装置包括探针组件，探针组件上方设置有浮板，浮板上方卡合连接有限位框。
11、更进一步地，所述限位框分布设置有若干个第二卡接件，浮板分布设置有若干个探针孔，探针孔分布设置有若干个第二卡接位，第二卡接件与第二卡接位卡合连接。
12、更进一步地，所述探针组件包括下针板，下针板上方设置有上针板，上针板上方分布设置有若干个探针，探针与探针孔相对应，探针四周分布设置有第二弹簧，第二弹簧端部抵在浮板上。
13、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
14、摇杆与滚轮为分体机构，因滚轮是转动设置在摇杆上，从而使得滚轮每次与芯片接触时都不是同一位置，相比一体机构摇杆的磨损少，有效提高摇杆使用寿命，降低采购成本，提高芯片与探针接触稳定性；限位框与浮板固定方式采用45度活卡扣机构方式固定，此结构在更换限位框时效果佳，轻轻一提即可取出限位框，限位框与浮板都不会有破坏和损伤。
1.一种滚轮芯片测试座，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上方卡合连接有上盖(2)，底座(1)与上盖(2)之间设置有检测装置(3)，检测装置(3)两侧转动设置有摇杆(4)，摇杆(4)端部转动设置有将芯片压合在检测装置(3)上的滚轮(5)。
2.根据权利要求1所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述上盖(2)左右两侧设置有若干个第一长形孔(201)，第一长形孔(201)下方设置有若干个第一卡接件(202)，上盖(2)前后两侧设置有若干个第一固定孔(203)。
3.根据权利要求2所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述摇杆(4)设置有第二长形孔(401)，第二长形孔(401)滑动设置有第一钢销(402)，第一钢销(402)两端设置在第一固定孔(203)内。
4.根据权利要求3所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述底座(1)左右两侧设置有若干个滑动杆(101)，滑动杆(101)滑动设置在第一长形孔(201)上，底座(1)前后两侧设置有槽位(102)，摇杆(4)转动设置在槽位(102)上，槽位(102)两侧设置有第二固定孔(103)。
5.根据权利要求4所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述滑动杆(101)下方设置有若干个第一卡接位(104)，第一卡接件(202)与第一卡接位(104)卡合连接。
6.根据权利要求4所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述摇杆(4)中部下端设置有固定筒(403)，固定筒(403)插接有第二钢销(404)，第二钢销(404)两端设置在第二固定孔(103)内。
7.根据权利要求1所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述底座(1)分布设置有若干个第一弹簧(105)，第一弹簧(105)端部抵在上盖(2)上。
8.根据权利要求1所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述检测装置(3)包括探针组件(301)，探针组件(301)上方设置有浮板(302)，浮板(302)上方卡合连接有限位框(303)。
9.根据权利要求8所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述限位框(303)分布设置有若干个第二卡接件(3031)，浮板(302)分布设置有若干个探针孔(3021)，探针孔(3021)分布设置有若干个第二卡接位(3022)，第二卡接件(3031)与第二卡接位(3022)卡合连接。
10.根据权利要求9所述的一种滚轮芯片测试座，其特征在于，所述探针组件(301)包括下针板(3011)，下针板(3011)上方设置有上针板(3012)，上针板(3012)上方分布设置有若干个探针(3013)，探针(3013)与探针孔(3021)相对应，探针(3013)四周分布设置有第二弹簧(3014)，第二弹簧(3014)端部抵在浮板(302)上。
