一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头的制作方法

    技术2025-02-25  53


    本发明涉及表面电阻测量,尤其是涉及一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头。


    背景技术:

    1、在电力系统中,表面绝缘是确保电力设备安全运行和电网稳定供电的关键技术之一。表面绝缘的重要性不仅体现在防止电流泄漏和电弧产生上,还关乎到整个电力系统的安全、稳定和长期运行。目前绝缘表面电阻测量,由于探头部分存在电流泄露的情况,影响了测量的准确性。

    2、经过检索,授权公告号cn212410654u公开了一种接地电阻测试仪用可拆卸接地探针,具体公开了:包括第一壳体,第一壳体一侧螺纹连接有第二壳体,且第一壳体一侧中部贯穿连接有导线,导线之间通过连接器电性连接,且导线一端电性连接有导电头,第二壳体一侧中部贯穿连接有螺管,且螺管前端通过螺块连接有探针主体,探针主体由螺块前端中部设置的通口延伸出螺块内部,且通口前端螺纹连接有密封盖,探针主体、导线一端与第一壳体、第二壳体内中部连接的第一导电管端部电性连接。

    3、该现有技术并不适用于对绝缘表面电阻进行测量,故如何设计一种测量准确性高,用于绝缘表面电阻测量的测试探头为需要解决的技术问题。


    技术实现思路

    1、本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的由于探头部分存在漏电流,测量准确性低的缺陷而提供一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头。

    2、本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:

    3、根据本发明的一个方面,提供了一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,包括外壳、探针组件、屏蔽芯组件和线缆;所述外壳内一端设有探针主体安装孔,另一端设有线缆穿过孔,所述探针主体安装孔和线缆穿过孔连通;所述探针组件一端安装在探针主体安装孔内,另一端位于外壳外部,接触待测物,所述探针组件包括第一探针和第二探针;所述屏蔽芯组件包覆在探针组件上且位于探针组件和外壳之间;所述线缆从线缆穿过孔引出至外壳外部,所述线缆从内至外依次包括芯线、芯线绝缘材料层、中间屏蔽层、绝缘材料层、外侧屏蔽层和外套层;所述芯线与第一探针电气连接,所述中间屏蔽层与屏蔽芯组件电气连接,所述外侧屏蔽层与第二探针电气连接。

    4、作为优选的技术方案,所述的探针组件还包括探针主体,所述探针主体安装在探针主体安装孔内,所述探针主体内部开设有两个探针安装孔,所述第一探针和第二探针分别安装在两个探针安装孔内。

    5、作为优选的技术方案,所述的第一探针和第二探针均包括探针本体和探针座,所述探针本体安装在探针座内,所述探针座安装在探针安装孔内,所述第一探针的探针座与芯线连接,所述第二探针的探针座与外侧屏蔽层连接。

    6、作为优选的技术方案,所述的第一探针和第二探针中至少一个可伸缩。

    7、作为优选的技术方案,所述的探针主体安装孔靠近线缆穿过孔的一端还设有垫块,所述垫块位于线缆穿过孔和探针组件之间。

    8、作为优选的技术方案,所述的线缆穿过孔远离探针主体安装孔的一端设有线缆防弯折接头,所述线缆穿过并与线缆防弯折接头固连。

    9、作为优选的技术方案,所述的屏蔽芯组件外表面设有螺纹,所述探针主体安装孔内表面设有螺纹,所述屏蔽芯组件与探针主体安装孔通过螺纹配合安装。

    10、作为优选的技术方案,该测试探头还包括跨距板、跨距板支架、pcb板和两个第三探针,所述跨距板支架安装在外壳设有探针主体安装孔的一端,所述跨距板通过跨距板支架安装在外壳一端,所述跨距板延伸方向垂直于外壳轴线方向,所述pcb板安装在外壳和跨距板之间,两个所述第三探针安装在跨距板两侧且通过pcb板分别与第一探针和第二探针电气连接。

    11、作为优选的技术方案,所述的外壳设置探针主体安装孔的一侧的外表面通过螺纹套安装有挡块和安装环,所述挡块位于螺纹套与安装环之间。

    12、作为优选的技术方案,所述的安装环上还设有撑杆和延长杆,所述延长杆安装在撑杆上。

    13、与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:

    14、1)本发明第一探针和第二探针被屏蔽芯组件完全包裹,进行电阻测量时,沿第一探针或第二探针泄露的电流被屏蔽芯组件阻挡,不会对电阻的计算产生影响,使测量结果更加准确;作业人员可单手持测试探头进行操作,适用于作业空间狭小的情况,第一探针和第二探针位置固定,两者之间不会因打滑造成短路,安全性更高;设置芯线绝缘材料层和绝缘材料层具有绝缘效果;

    15、2)本发明第一探针和第二探针中至少一个可伸缩,使得探针组件可以与非平面的表面接触,实现非平面的表面测量;

    16、3)本发明线缆穿过孔和探针组件之间设置垫块,可以通过放置不同高度的垫块调整探针组件伸出外壳的长度;

    17、4)本发明屏蔽芯组件外表面设有螺纹,可以通过螺纹便捷地将探针组件和屏蔽芯组件安装在外壳内;

    18、5)本发明设置跨距板、跨距板支架、pcb板和第三探针,可以实现测量拓展,通过安装不同长度的跨距板延长两个第三探针之间的距离,第三探针与第一探针和第二探针电气连接,即可实现测量时的跨距拓展;

    19、6)本发明安装环上安装撑杆,可以进行支撑,用于改变不同角度下的测量;撑杆上连接延长杆,可以实现远距离的测量。



    技术特征:

    1.一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,包括外壳(10)、探针组件、屏蔽芯组件(60)和线缆(50);所述外壳(10)内一端设有探针主体安装孔(11),另一端设有线缆穿过孔(12),所述探针主体安装孔(11)和线缆穿过孔(12)连通;所述探针组件一端安装在探针主体安装孔(11)内,另一端位于外壳(10)外部,接触待测物,所述探针组件包括第一探针(40)和第二探针(41);所述屏蔽芯组件(60)包覆在探针组件上且位于探针组件和外壳(10)之间;所述线缆(50)从线缆穿过孔(12)引出至外壳(10)外部,所述线缆(50)从内至外依次包括芯线(51)、芯线绝缘材料层(52)、中间屏蔽层(53)、绝缘材料层(54)、外侧屏蔽层(55)和外套层(56);所述芯线(51)与第一探针(40)电气连接,所述中间屏蔽层(53)与屏蔽芯组件(60)电气连接,所述外侧屏蔽层(55)与第二探针(41)电气连接。

    2.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的探针组件还包括探针主体(20),所述探针主体(20)安装在探针主体安装孔(11)内,所述探针主体(20)内部开设有两个探针安装孔(21),所述第一探针(40)和第二探针(41)分别安装在两个探针安装孔(21)内。

    3.根据权利要求2所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的第一探针(40)和第二探针(41)均包括探针本体(42)和探针座(43),所述探针本体(42)安装在探针座(43)内,所述探针座(43)安装在探针安装孔(21)内,所述第一探针(40)的探针座(43)与芯线(51)连接,所述第二探针(41)的探针座(43)与外侧屏蔽层(55)连接。

    4.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的第一探针(40)和第二探针(41)中至少一个可伸缩。

    5.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的探针主体安装孔(11)靠近线缆穿过孔(12)的一端还设有垫块(30),所述垫块(30)位于线缆穿过孔(12)和探针组件之间。

    6.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的线缆穿过孔(12)远离探针主体安装孔(11)的一端设有线缆防弯折接头(70),所述线缆(50)穿过并与线缆防弯折接头(70)固连。

    7.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的屏蔽芯组件(60)外表面设有螺纹,所述探针主体安装孔(11)内表面设有螺纹,所述屏蔽芯组件(60)与探针主体安装孔(11)通过螺纹配合安装。

    8.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,该测试探头还包括跨距板(120)、跨距板支架(130)、pcb板(140)和两个第三探针(150),所述跨距板支架(130)安装在外壳(10)设有探针主体安装孔(11)的一端,所述跨距板(120)通过跨距板支架(130)安装在外壳(10)一端,所述跨距板(120)延伸方向垂直于外壳(10)轴线方向,所述pcb板(140)安装在外壳(10)和跨距板(120)之间,两个所述第三探针(150)安装在跨距板(120)两侧且通过pcb板(140)分别与第一探针(40)和第二探针(41)电气连接。

    9.根据权利要求1所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的外壳(10)设置探针主体安装孔(11)的一侧的外表面通过螺纹套(80)安装有挡块(90)和安装环(100),所述挡块(90)位于螺纹套(80)与安装环(100)之间。

    10.根据权利要求9所述的一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,其特征在于,所述的安装环(100)上还设有撑杆和延长杆,所述延长杆安装在撑杆上。


    技术总结
    本发明涉及表面电阻测量,尤其是涉及一种用于绝缘表面电阻测量的测试探头,以克服现有技术中测量准确性低的缺陷,本发明包括外壳、探针组件、屏蔽芯组件和线缆;探针组件安装外壳内,包括第一探针和第二探针;屏蔽芯组件包覆在探针组件上且位于探针组件和外壳之间;线缆包括芯线、中间屏蔽层和外侧屏蔽层;芯线与第一探针电气连接,中间屏蔽层与屏蔽芯组件电气连接,外侧屏蔽层与第二探针电气连接。与现有技术相比,本发明具有探针组件被屏蔽芯组件包覆,进行电阻测量时,沿第一探针或第二探针泄露的电流被屏蔽芯组件阻挡,不对电阻的计算产生影响,测量结果更准确;作业人员可单手持测试探头进行操作,适用于作业空间狭小的情况等优点。

    技术研发人员:李世卿,周录波,何梦,李荪琪,刘隰蒲,仲桦,简博恒,尹寿鹏,施天宇,李晟元,江岚,王俊娜
    受保护的技术使用者:国网上海市电力公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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