本发明构思涉及一种触发器，并且更具体地，涉及一种多位触发器。
背景技术：
1、根据半导体芯片的高集成度已经提出一种多位触发器，其中利用单个单元来实施两个或更多触发器。已经广泛地使用可测试性设计(dft)来维持半导体芯片的质量和提高测试效率，并且dft技术的扫描测试技术是有价值的。
技术实现思路
1、根据本发明构思的方面，提供一种多位触发器，包括：单个扫描输入引脚，被配置为接收扫描输入信号；多个数据输入引脚，被配置为分别接收至少第一数据输入信号和第二数据输入信号；第一扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择扫描输入信号和第一数据输入信号之一作为第一选择信号，并且锁存第一选择信号以提供第一输出信号；第二扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择与第一输出信号相对应的内部信号和第二数据输入信号之一作为第二选择信号，并且锁存第二选择信号以提供第二输出信号；以及多个输出引脚，被配置为分别输出第一输出信号和第二输出信号，其中，第一扫描触发器和第二扫描触发器的扫描路径连接到彼此。
2、根据本发明构思的另一个方面，提供一种多位触发器，包括：单个负扫描输入引脚，被配置为接收负扫描输入信号；多个数据输入引脚，被配置为分别接收至少第一数据输入信号和第二数据输入信号；第一扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择内部扫描输入信号和第一数据输入信号之一作为第一选择信号，并且锁存第一选择信号以提供第一负输出信号；第二扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择与第一负输出信号相对应的内部信号和第二数据输入信号之一作为第二选择信号，并且锁存第二选择信号以提供第二负输出信号；以及多个负输出引脚，被配置为分别输出第一负输出信号和第二负输出信号，其中，第一扫描触发器和第二扫描触发器的扫描路径连接到彼此。
3、根据本发明构思的另一个方面，提供一种多位触发器，包括：第一扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择扫描输入信号和第一数据输入信号之一作为第一选择信号，并且锁存第一选择信号以提供第一输出信号；和第二扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择与第一输出信号相对应的内部信号和第二数据输入信号之一作为第二选择信号，并且锁存第二选择信号以提供第二输出信号，其中，第一扫描触发器和第二扫描触发器的数据路径彼此分开，并且第一扫描触发器和第二扫描触发器的扫描路径连接到彼此。
4、根据本发明构思的又一个方面，一种多位触发器，包括：第一扫描触发器，被配置为接收第一数据输入信号并且接收扫描输入信号，以及锁存作为对第一数据输入信号和扫描输入信号中的第一所选的一个的响应的第一输出信号，其中，第一扫描触发器被配置为响应于扫描使能信号选择第一数据输入信号和扫描输入信号中的第一所选的一个；以及第二扫描触发器，被配置为接收第二数据输入信号并且接收与第一输出信号相对应的内部信号，以及锁存作为对第二数据输入信号和与第一输出信号相对应的内部信号中的第二所选的一个的响应的第二输出信号，其中，第二扫描触发器响应于扫描使能信号选择第二数据输入信号和与第一输出信号相对应的内部信号中的第二所选的一个。
5、根据本发明构思的另一个方面，提供一种多位触发器，包括：一种多位触发器，包括：单个扫描输入引脚，被配置为接收扫描输入信号；
6、第一数据输入引脚，被配置为接收第一数据输入信号；第二数据输入引脚，被配置为接收第二数据输入信号；第一扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择扫描输入信号和第一数据输入信号中的一个作为第一选择信号，并且锁存第一选择信号以提供第一输出信号；第二扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择与第一输出信号相对应的内部信号和第二数据输入信号中的一个作为第二选择信号，并且锁存第二选择信号以提供第二输出信号；第一输出引脚，被配置为输出第一输出信号；以及第二输出引脚，被配置为输出第二输出信号，其中，第一扫描触发器和第二扫描触发器的扫描路径连接到彼此，并且当扫描使能信号指示扫描测试模式时，与扫描输入信号相对应的第二输出信号仅通过第二输出引脚而不通过测试输出引脚来输出，以及其中，第一扫描触发器包括：主锁存器，被配置为锁存第一选择信号，从锁存器，被配置为基于主锁存器的输出来提供第一输出信号和内部信号，其中，从锁存器包括：传输器件，被配置为传送主锁存器的输出或使主锁存器的输出反相；第一反相器，具有连接到传输器件的输出端子的第一输入端子并且还具有第一输出端子；以及第二反相器，具有连接到第一反相器的第一输出端子的第二输入端子并且还具有连接到第一反相器的第一输入端子的第二输出端子，以及其中，第二反相器的输出或第一反相器的输出被用作内部信号，并且当扫描使能信号指示扫描测试模式时，所述内部信号被用作针对第二扫描触发器的第二扫描输入信号，以及其中，所述多位触发器不包括用于所述扫描测试模式的所述测试输出引脚。
7、根据本发明构思的另一个方面，提供一种多位触发器，包括：一种多位触发器，包括：单个负扫描输入引脚，被配置为接收负扫描输入信号；第一数据输入引脚，被配置为接收第一数据输入信号；第二数据输入引脚，被配置为接收第二数据输入信号；第一扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择内部扫描输入信号和第一数据输入信号中的一个作为第一选择信号，并且锁存第一选择信号以提供第一负输出信号；第二扫描触发器，被配置为响应于扫描使能信号选择与第一负输出信号相对应的内部信号和第二数据输入信号中的一个作为第二选择信号，并且锁存第二选择信号以提供第二负输出信号；第一负输出引脚，被配置为输出第一负输出信号；以及第二负输出引脚，被配置为输出第二负输出信号，其中，第一扫描触发器和第二扫描触发器的扫描路径连接到彼此，并且当扫描使能信号指示扫描测试模式时，与负扫描输入信号相对应的第二负输出信号仅通过第二负输出引脚而不通过测试输出引脚来输出，以及其中，第一扫描触发器包括：主锁存器，被配置为锁存第一选择信号，从锁存器，被配置为基于主锁存器的输出来提供第一输出信号和内部信号，其中，从锁存器包括：传输器件，被配置为传送主锁存器的输出或使主锁存器的输出反相；第一反相器，具有连接到传输器件的输出端子的第一输入端子并且还具有第一输出端子；以及第二反相器，具有连接到第一反相器的第一输出端子的第二输入端子并且还具有连接到第一反相器的第一输入端子的第二输出端子，以及其中，第二反相器的输出或第一反相器的输出被用作内部信号，并且当扫描使能信号指示扫描测试模式时，所述内部信号被用作针对第二扫描触发器的扫描输入信号，以及其中，所述多位触发器不包括用于所述扫描测试模式的所述测试输出引脚。
1.一种多位触发器，包括：
2.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，内部信号是通过对第一输出信号进行镜像所获取的信号。
3.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，第一扫描触发器生成具有与第一输出信号相同的逻辑电平的信号作为内部信号，并且向第二扫描触发器提供内部信号。
4.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，第一扫描触发器生成具有与第一输出信号的逻辑电平的反相相对应的逻辑电平的信号作为内部信号，并且向第二扫描触发器提供内部信号。
5.根据权利要求1所述的多位触发器，还包括时钟缓冲器，所述时钟缓冲器被配置为接收时钟信号，缓冲所接收的时钟信号，以及驱动第一扫描触发器和第二扫描触发器，
6.根据权利要求5所述的多位触发器，其中，所述时钟缓冲器包括：
7.根据权利要求5所述的多位触发器，其中，所述时钟缓冲器包括时钟反相器，所述时钟反相器被配置为使时钟信号反相并且输出反相的时钟信号。
8.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，所述从锁存器包括三态反相器，所述三态反相器被配置为响应于时钟信号使主锁存器的输出反相。
9.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，扫描输入信号的极性与第一输出信号的极性相同。
10.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，扫描输入信号的极性不同于第一输出信号的极性。
11.根据权利要求1所述的多位触发器，其中，第二扫描触发器包括：
12.根据权利要求11所述的多位触发器，其中，第二扫描触发器还被配置为：当扫描使能信号指示扫描测试模式时，选择第四反相器的输出。
13.一种多位触发器，包括：
14.根据权利要求13所述的多位触发器，其中，内部信号是通过对第一负输出信号进行镜像所获取的信号。
15.根据权利要求13所述的多位触发器，其中，第一扫描触发器生成具有与第一负输出信号相同的逻辑电平的信号作为内部信号，并且向第二扫描触发器提供内部信号。
16.根据权利要求13所述的多位触发器，其中，第一扫描触发器生成具有与第一负输出信号的逻辑电平的反相相对应的逻辑电平的信号作为内部信号，并且向第二扫描触发器提供内部信号。
17.根据权利要求13所述的多位触发器，还包括时钟缓冲器，所述时钟缓冲器被配置为接收时钟信号，缓冲所接收的时钟信号，以及驱动第一扫描触发器和第二扫描触发器，
18.根据权利要求17所述的多位触发器，其中，所述时钟缓冲器包括：
19.根据权利要求13所述的多位触发器，其中，第二扫描触发器包括：
20.根据权利要求19所述的多位触发器，其中，第二扫描触发器还被配置为：当扫描使能信号指示扫描测试模式时，选择第四反相器的输出。
