系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质与流程

    技术2025-02-12  48


    本发明属于测试,具体而言,涉及一种系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质。


    背景技术:

    1、随着汽车行业的快速发展,车规soc芯片在车辆控制、信息娱乐等方面发挥着越来越重要的作用。由于汽车环境的复杂性和对安全性的高要求,车规soc芯片的功能安全验证显得尤为重要。传统的验证方法存在周期长、成本高、验证不全面等问题,难以满足车规soc芯片功能安全验证的需求。


    技术实现思路

    1、本发明实施例提供了一种系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质,以至少解决传统的验证方法存在周期长、成本高、验证不全面的技术问题。

    2、根据本发明实施例的第一个方面,提供了一种系统级芯片安全功能测试方法,方法包括:从系统级芯片中提取安全功能模块;根据系统级芯片的参数,构建测试平台;将安全功能模块映射至测试平台,得到映射安全功能模块;根据预设测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果。

    3、可选的,从系统级芯片中提取安全功能模块包括:从系统级芯片确定初始安全功能模块;对初始安全功能模块进行抽象和封装得到安全功能模块。

    4、可选的,根据系统级芯片的参数,构建测试平台包括:根据系统级芯片的复杂度和规模,确定对预设测试平台进行资源配置,得到测试平台,其中,复杂度和规模包含于参数。

    5、可选的,预设测试平台为现场可编程门阵列平台。

    6、可选的,将安全功能模块映射至测试平台,得到映射安全功能模块包括:将安全功能模块的功能参数和性能参数映射至测试平台,得到映射安全功能模块。

    7、可选的,根据预设测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果包括:根据安全功能测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到第一结果;根据安全响应测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到第二结果;根据第一结果和第二结果,确定测试结果。

    8、根据本发明实施例的第二方面,还提供一种系统级芯片安全功能测试系统,包括:

    9、提取模块,用于从系统级芯片中提取安全功能模块;构建模块,用于根据系统级芯片的参数,构建测试平台;映射模块,用于将安全功能模块映射至测试平台,得到映射安全功能模块;测试模块,用于根据预设测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果。

    10、可选的,提取模块还用于:从系统级芯片确定初始安全功能模块;对初始安全功能模块进行抽象和封装得到安全功能模块。

    11、可选的,构建模块还用于:根据系统级芯片的复杂度和规模,确定对预设测试平台进行资源配置,得到测试平台,其中,复杂度和规模包含于参数。

    12、可选的,构建模块中的预设测试平台为现场可编程门阵列平台。

    13、可选的,映射模块还用于:将安全功能模块的功能参数和性能参数映射至测试平台,得到映射安全功能模块。

    14、可选的,测试模块还用于:根据安全功能测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到第一结果;根据安全响应测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到第二结果;根据第一结果和第二结果,确定测试结果。

    15、根据本发明实施例的第三方面,还提供了一种电子设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,处理器被设置为运行计算机程序以执行上述第一方面任一实施例中所述的系统级芯片安全功能测试方法。

    16、根据本发明实施例的第四方面,还提供了一种非易失性存储介质,非易失性存储介质中存储有计算机程序,其中,计算机程序被设置为在计算机或处理器上运行时,执行上述第一方面任一实施例中所述的系统级芯片安全功能测试方法。

    17、根据本发明实施例的第五方面,还提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,计算机程序在被处理器执行时实现上述第一方面任一实施例中所述的系统级芯片安全功能测试方法。

    18、在本发明实施例中,从系统级芯片中提取安全功能模块;根据系统级芯片的参数,构建测试平台;将安全功能模块映射至测试平台,得到映射安全功能模块;根据预设测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果,通过将系统级芯片中的安全功能模块映射到测试平台,然后利用测试平台对映射出的芯片进行测试,可以方便、快捷、全面的对安全功能模块进行验证,进而可以解决传统的验证方法存在周期长、成本高、验证不全面的技术问题。



    技术特征:

    1.一种系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,包括:

    2.根据权利要求1所述的系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,所述从所述系统级芯片中提取安全功能模块包括:

    3.根据权利要求1所述的系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,所述根据所述系统级芯片的参数,构建测试平台包括:

    4.根据权利要求3所述的系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,所述预设测试平台为现场可编程门阵列平台。

    5.根据权利要求3所述的系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,所述将所述安全功能模块映射至所述测试平台,得到映射安全功能模块包括:

    6.根据权利要求3所述的系统级芯片安全功能测试方法,其特征在于,所述根据预设测试用例,利用所述测试平台对所述映射安全功能模块进行测试得到测试结果包括:

    7.一种系统级芯片安全功能测试系统,其特征在于,包括:

    8.一种电子设备,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述权利要求1至6任一项中所述的系统级芯片安全功能测试方法。

    9.一种非易失性存储介质,其特征在于,所述非易失性存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被设置为在计算机或处理器上运行时,执行上述权利要求1至6任一项中所述的系统级芯片安全功能测试方法。

    10.一种计算机程序产品,其特征在于,包括计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1至6任一项所述的系统级芯片安全功能测试方法。


    技术总结
    本发明公开了一种系统级芯片安全功能测试方法、系统、电子设备及介质,其中,方法包括:从系统级芯片中提取安全功能模块;根据系统级芯片的参数,构建测试平台;将安全功能模块映射至测试平台,得到映射安全功能模块;根据预设测试用例,利用测试平台对映射安全功能模块进行测试得到测试结果。本发明解决了传统的验证方法存在周期长、成本高、验证不全面的技术问题。

    技术研发人员:王强,张凯,高嘉颖,朱航绪,刘国亮
    受保护的技术使用者:中国第一汽车股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/10/24
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