本申请涉及通信，特别是涉及一种芯片验证方法、平台、装置、设备、介质及产品。
背景技术：
1、芯片验证和测试是保证芯片设计和生产正确性的重要手段。在芯片验证中，基于现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)的原型验证是行业广泛认可的方案，能够提升软件和硬件的验证效率。然而，基于fpga的原型验证的方法，在针对不同的验证用例时，需要实现相应的程序，而这些程序功能相对单一，复用性较差，这使得验证过程缺乏灵活性，每次验证都需要重新编写相应的代码，从而导致芯片验证的效率较低。
技术实现思路
1、本申请提供的一种芯片验证方法、平台、装置、设备、介质及产品，能够提高芯片验证的效率。
2、第一方面，本申请实施例提供一种芯片验证方法，方法包括：
3、获取预设置的配置表，配置表包括验证参数，验证参数用于对待验证芯片中各待验证模块的功能进行验证；
4、基于待验证模块的功能属性，对验证参数进行解析，得到待验证模块的第一控制信息、目标标准模型的第二控制信息，以及比对规则，目标标准模型与待验证模块相对应，比对规则用于验证待验证模块；
5、基于第一控制信息运行待验证模块，得到待验证模块的实际运行数据；
6、基于第二控制信息运行目标标准模型，得到目标标准模型的标准运行数据；
7、根据比对规则，将实际运行数据和标准运行数据进行比对，并输出比对结果，比对结果用于指示待验证模块是否验证通过。
8、第二方面，本申请提供一种芯片验证平台，该芯片验证平台用于执行上述第一方面中任意一个实施例中的芯片验证方法，芯片验证平台包括上位机和下位机，上位机和下位机通过连接线相互通信；
9、上位机用于解析配置表中的验证参数，生成第一控制信息、第二控制信息和比对规则，并将第一控制信息通过连接线发送至下位机；
10、下位机用于将待验证模块按照第一控制信息运行，生成实际运行数据，并将实际运行数据通过连接线发送至上位机；
11、上位机还用于将目标标准模型按照第二控制信息运行，生成标准运行数据，并按照比对规则比对标准运行数据和实际运行数据，生成比对结果，比对结果用于指示待验证模块是否验证通过。
12、第三方面，本申请提供一种芯片验证装置，该装置包括：
13、获取模块，用于获取预设置的配置表，配置表包括验证参数，验证参数用于对待验证芯片中各待验证模块的功能进行验证；
14、解析模块，用于基于待验证模块的功能属性，对验证参数进行解析，得到待验证模块的第一控制信息、目标标准模型的第二控制信息，以及比对规则，目标标准模型与待验证模块相对应，比对规则用于验证待验证模块；
15、第一运行模块，用于基于第一控制信息运行待验证模块，得到待验证模块的实际运行数据；
16、第二运行模块，用于基于第二控制信息运行目标标准模型，得到目标标准模型的标准运行数据；
17、比对模块，用于根据比对规则，将实际运行数据和标准运行数据进行比对，并输出比对结果，比对结果用于指示待验证模块是否验证通过。
18、第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；
19、处理器执行计算机程序指令时实现如第一方面中任意一个实施例中的芯片验证方法，以及第二方面中任意一个实施例中的芯片验证平台。
20、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，计算机存储介质上存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现如第一方面中任意一个实施例中的芯片验证方法，以及第二方面中任意一个实施例中的芯片验证平台。
21、第六方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，计算机程序产品中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备执行实现如上述第一方面中任意一个实施例中的芯片验证方法，以及第二方面中任意一个实施例中的芯片验证平台。
22、在本申请实施例提供的一种芯片验证方法、平台、装置、设备、介质及产品中，通过获取预设置的配置表，配置表包括验证参数，验证参数用于对待验证芯片中各待验证模块的功能进行验证；基于待验证模块的功能属性，对验证参数进行解析，得到待验证模块的第一控制信息、目标标准模型的第二控制信息，以及比对规则，目标标准模型与待验证模块相对应，比对规则用于验证待验证模块；基于第一控制信息运行待验证模块，得到待验证模块的实际运行数据；基于第二控制信息运行目标标准模型，得到目标标准模型的标准运行数据；根据比对规则，将实际运行数据和标准运行数据进行比对，并输出比对结果，比对结果用于指示待验证模块是否验证通过。上述方式，通过配置表中的验证参数，能够基于待验证模块的不同功能属性，配置出不同的验证用例(即第一控制信息、第二控制信息以及比对规则)，从而使得验证人员无需每次重新编写代码，而是可以根据需要配置不同的验证参数，轻松适应不同的验证用例，由此可以减少验证人员的工作量，从而提高芯片的验证效率。
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待验证模块的功能属性，对所述验证参数进行解析，得到所述待验证模块的第一控制信息、目标标准模型的第二控制信息，以及比对规则，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述功能属性和所述验证参数，确定所述第二控制信息，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待验证模块的功能属性，对所述验证参数进行解析配置，得到所述第一控制信息，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述验证参数包括模型设计参数、模块工作参数、辅助参数以及隐式参数中的至少一者；
6.一种芯片验证平台，其特征在于，所述芯片验证平台用于执行如权利要求1-5任一项所述的芯片验证方法，所述芯片验证平台包括上位机和下位机，所述上位机和所述下位机通过连接线相互通信；
7.一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-5任意一项所述的芯片验证方法，以及如权利要求6所述的芯片验证平台。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备执行如权利要求1-5任意一项所述的芯片验证方法，以及如权利要求6所述的芯片验证平台。
