本发明应用于芯片测试的,特别是一种测试板以及测试系统。
背景技术:
1、伴随着我国集成电路产业的飞速发展,芯片测试及相关产业发展迅猛。目前的主流芯片测试方式都是通过测试板来搭载待测对象,然后测试板再与测试机台对接,完成整个通讯与测试。
2、测试板又因其设计难度大、制作周期长,成为制约整个测试流程的关键因素之一。测试板本身尺寸大,器件多,导致造价昂贵,正常的单板成品都要上十几万了,这就使得测试板的设计一次性成功率变得尤为重要。
3、在测试板设计中,电源设计占了很大比重,电源设计中的监测电路走线处理又是重中之重,但监测电路在实际制备中的走线经常会出现漏线的情况。在电源很多的情况下,这些错误难以彻底检查出来,使得一经生产出来都没法补救,只能重新设计投板,造成巨大的损失。
技术实现思路
1、本发明提供了一种测试板以及测试系统,以解决监测电路走线的漏线问题。
2、为解决上述技术问题,本发明提供了一种测试板,包括:目标电路板,目标电路板上间隔设置有电源电路以及监测电路,监测电路的第一端以及电源电路的第一端分别用于连接待测对象,监测电路的第二端以及电源电路的第二端分别用于连接测试设备;其中,监测电路的第一端与第二端分别为不同的连接网络。
3、其中,监测电路的中间设置有器件或金属件,监测电路的第一端通过器件或金属件与监测电路的第二端连接,以通过器件或金属件为分界,使得监测电路的第一端与第二端分别为不同的连接网络。
4、其中,监测电路中连接设置有双连接器件,双连接器件包括依次连接的第一连接件、连接主体以及第二连接件,第一连接件还与监测电路的第一端连接,第二连接件还与监测电路的第二端连接。
5、其中,双连接器件、监测电路以及电源电路同层设置于目标电路板的内层中。
6、其中,双连接器件是通过对目标电路板的内层导电层进行蚀刻制备得到的。
7、其中,电源电路包括第一电源电路以及第二电源电路;监测电路包括第一监测电路以及第二监测电路;第一电源电路与第一监测电路相邻设置,第二电源电路与第二监测电路相邻设置。
8、其中,第一监测电路的第一端与待测对象的数字电源引脚连接,第一监测电路的另一端与测试设备的第一监测接口连接;第二监测电路的第一端与待测对象的模拟电源引脚连接,第二监测电路的另一端与测试设备的第二监测接口连接。
9、其中,第一电源电路的第一端与待测对象的数字电源引脚连接,第一电源电路的第二端与测试设备的第一电源接口连接;第二电源电路的第一端与待测对象的模拟电源引脚连接,第二电源电路的第二端与测试设备的第二电源接口连接。
10、其中,第一监测电路与第一电源电路在待测对象处短接,第二监测电路与第二电源电路在待测对象处短接。
11、为解决上述技术问题,本发明提供了一种测试系统,测试系统包括测试板以及测试设备;测试设备与测试板连接,测试板上连接有待测对象;其中,测试板包括上述任一项的测试板。
12、为解决上述技术问题,本发明的测试板包括目标电路板,目标电路板上设置有电源电路以及监测电路,监测电路以及电源电路的第一端分别用于连接待测对象,监测电路以及电源电路的第二端分别用于连接测试设备;其中,监测电路的第一端与第二端分别为不同的连接网络,从而提高监测电路的第一端与第二端对应连接网络的漏线明显度,减少监测电路漏线的情况发生,进而提高测试板的可靠性与稳定性。
1.一种测试板,其特征在于,所述测试板包括:
2.根据权利要求1所述的测试板,其特征在于,
3.根据权利要求2所述的测试板,其特征在于,所述器件为双连接器件,所述双连接器件包括依次连接的第一连接件、连接主体以及第二连接件,所述第一连接件还与所述监测电路的第一端连接,所述第二连接件还与所述监测电路的第二端连接。
4.根据权利要求3所述的测试板,其特征在于,所述双连接器件、所述监测电路以及所述电源电路同层设置于所述目标电路板的内层中。
5.根据权利要求4所述的测试板,其特征在于,所述双连接器件是通过对所述目标电路板的内层导电层进行蚀刻制备得到的。
6.根据权利要求1-5任一项所述的测试板,其特征在于,所述电源电路包括第一电源电路以及第二电源电路;所述监测电路包括第一监测电路以及第二监测电路;
7.根据权利要求6所述的测试板,其特征在于,所述第一监测电路的第一端与待测对象的数字电源引脚连接,所述第一监测电路的另一端与所述测试设备的第一监测接口连接;
8.根据权利要求7所述的测试板,其特征在于,所述第一电源电路的第一端与待测对象的数字电源引脚连接,所述第一电源电路的第二端与所述测试设备的第一电源接口连接;
9.根据权利要求6所述的测试板,其特征在于,所述第一监测电路与所述第一电源电路在所述待测对象处短接,所述第二监测电路与所述第二电源电路在所述待测对象处短接。
10.一种测试系统,其特征在于,所述测试系统包括测试板以及测试设备;