本发明涉及存储设备性能分析，特别是涉及一种性能指标数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术：
1、存储设备是用于储存信息的设备，通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学等方式的媒体加以存储。通常在存储设备使用过程中采集存储设备的性能指标数据，性能指标数据不仅能够用于反应当前存储使用的状态，还能够帮助用户及时调整业务、增加扩容、维护存储设备。但，相关技术中，通常只是将性能指标数据进行直观的呈现，没有对性能指标数据进行深入分析，难以更好的满足用户需求。
2、可见，如何对存储设备的性能指标进行分析，更好的满足用户需求，是本领域技术人员需要解决的问题。
技术实现思路
1、本发明实施例的目的是提供一种性能指标数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，在使用过程中能够实现对存储设备性能指标数据的分析，利于用户根据该性能指标分析结果对存储设备进行运维，以更好的满足用户需求。
2、为解决上述技术问题，本发明实施例提供了以下技术方案：
3、本发明一方面提供一种存储设备的性能指标分析方法，包括：
4、获取存储设备各性能指标类型的性能指标数据；
5、针对每种性能指标类型的性能指标数据，计算所述性能指标数据中每相邻两个时间点的性能指标数据的偏移度，得到随时间变化的偏移度数据；
6、对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果。
7、在一些实施例中，所述计算所述性能指标数据中每相邻两个时间点的性能指标数据之间的偏移度，得到随时间变化的偏移度数据，包括：
8、针对所述性能指标数据中任意两个相邻时间点的性能指标数据，计算两个所述性能指标数据的差值，将所述差值作为初始偏移度；
9、采用与所述性能指标类型对应的校准参数对所述初始偏移度进行校准，得到校准偏移度；
10、将两个所述相邻时间点中的后一个时间点作为所述校准偏移度的时间值，得到对应的偏移度数据。
11、在一些实施例中， 所述对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果，包括：
12、根据各性能指标类型的偏移度数据，确定最大偏移度；
13、根据所述最大偏移度，确定与所述最大偏移度对应的最大偏移度时间点及目标性能指标类型；
14、从与所述目标性能指标类型对应的偏移度数据中确定次大偏移度；
15、在所述次大偏移度大于所述最大偏移度的第一预设百分比的情况下，确定所述最大偏移度时间点为异常时刻。
16、在一些实施例中，所述在所述次大偏移度大于所述最大偏移度的第一预设百分比的情况下，确定所述最大偏移度时间点为异常时刻，包括：
17、在所述次大偏移度大于所述最大偏移度的第一预设百分比的情况下，针对各个其他性能指标类型，从与其他性能指标类型对应的性能指标数据中，确定与所述最大偏移度时间点对应的指标值；所述其他性能指标类型不同于所述目标性能指标类型；
18、从与所述其他性能指标类型对应的性能指标数据中，确定最大指标值及与所述最大指标值对应的最大指标时间点；
19、判断所述最大偏移度时间点及每个所述其他性能指标类型对应的最大指标时间点是否均相同；
20、若均相同，则确定所述最大偏移度时间点为正常时刻；
21、若未均相同，则判断每个所述其他性能指标类型的性能指标数据中，与所述最大偏移度时间点对应的指标值是否均达到对应的最大指标值的第二预设百分比；
22、若均达到，则确定所述最大偏移度时间点为正常时刻；
23、若未均达到，则确定最大偏移度时间点为异常时刻，所述目标性能指标类型对应的性能指标为异常指标。
24、在一些实施例中，所述对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果，包括：
25、根据各性能指标类型的偏移度数据，确定每个时间点下每个所述性能指标类型对应的偏移度方向；
26、根据每个所述时间点下每个所述性能指标类型对应的偏移度方向，确定异常时刻。
27、在一些实施例中，所述根据每个所述性能指标类型下每个时间点的偏移度方向，确定异常时刻，包括：
28、判断当前时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中，是否存在一个性能指标类型的偏移度方向与其他性能指标类型的偏移度方向均不同；
29、若存在，则判断上一个时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中，是否存在一个性能指标类型的偏移度方向与其他性能指标类型的偏移度方向均不同，以及判断下一个时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中，是否存在一个性能指标类型的偏移度方向与其他性能指标类型的偏移度方向均不同；
30、在上一个时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中存在一个性能指标类型的偏移度方向与其他性能指标类型的偏移度方向均不同，且下一个时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中存在一个性能指标类型的偏移度方向与其他性能指标类型的偏移度方向均不同的情况下，确定所述当前时间点为异常时刻。
31、在一些实施例中，在所述确定所述当前时间点为异常时刻之后，还包括：
32、从所述当前时间点下的各个性能指标类型处的偏移度方向中，确定与其他性能指标类型的偏移度方向均不同目标偏移度方向；
33、将所述目标偏移度方向对应的性能指标作为所述异常时刻下的异常指标。
34、本发明另一方面提供了一种存储设备的性能指标分析装置，包括：
35、获取模块，用于获取存储设备各性能指标类型的性能指标数据；
36、计算模块，用于针对每种性能指标类型的性能指标数据，计算所述性能指标数据中每相邻两个时间点的性能指标数据的偏移度，得到随时间变化的偏移度数据；
37、分析模块，用于对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果。
38、本发明另一方面提供了一种电子设备，包括：
39、存储器，用于存储计算机程序；
40、处理器，用于执行所述计算机程序以实现如上述所述存储设备的性能指标分析方法的步骤。
41、本发明另一方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述所述存储设备的性能指标分析方法的步骤。
42、由上述技术方案可以看出，本发明的有益效果在于：
43、本发明实施例提供了一种存储设备的性能指标分析方法，通过获取存储设备各种性能指标类型的性能指标数据，并针对每种性能指标类型的性能指标数据，计算出性能指标数据中每相邻两个时间点的性能指标数据的偏移度，从而得到随时间变化的偏移度数据，由于偏移度数据能够很好的反应异常指标，因此通过对各种性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，能够得到性能指标分析结果，以便用户根据该性能指标分析结果对存储设备进行运维，以更好的满足用户需求。
44、此外，本发明还针对存储设备的性能指标分析方法提供了相应的实现装置、电子设备及计算机可读存储介质，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置、电子设备及计算机可读存储介质具有相应的优点。
45、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。
1.一种存储设备的性能指标分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于，所述计算所述性能指标数据中每相邻两个时间点的性能指标数据之间的偏移度，得到随时间变化的偏移度数据，包括：
3.根据权利要求1所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于， 所述对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果，包括：
4.根据权利要求3所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于，所述在所述次大偏移度大于所述最大偏移度的第一预设百分比的情况下，确定所述最大偏移度时间点为异常时刻，包括：
5.根据权利要求1所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于， 所述对各性能指标类型的性能指标数据及偏移度数据进行分析，得到性能指标分析结果，包括：
6.根据权利要求5所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于，所述根据每个所述性能指标类型下每个时间点的偏移度方向，确定异常时刻，包括：
7.根据权利要求6所述的存储设备的性能指标分析方法，其特征在于，在所述确定所述当前时间点为异常时刻之后，还包括：
8.一种存储设备的性能指标分析装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任意一项所述存储设备的性能指标分析方法的步骤。
